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* 壁滞留的研究 ---08硕士开题报告 报告人：曹斌 导师： 李建刚 胡建生 目录 研究背景 研究目的与内容 壁滞留机制 国内外研究进展 研究方法 研究计划 ASIPP 研究背景 在以D-T作为原料的托卡马克装置中碳的腐蚀将导致T的共同沉积，导致大量T滞留，并且T的滞留会抑制装置的运行，所以需要清除壁滞留的氢及其同位素。壁的滞留还会影响真空室中器件设计、材料选择 在装置内过量的T滞留在装置真空破坏时泄露到大气也将成为一个潜在的环境和人身安全问题 另外，价格昂贵的T的循环利用也可以有利于得到充分的T供应，降低运行成本 ASIPP 研究目的与内容 具有HT-7和EAST特色的GBST1308 (1%B, 2.5%Si, 7.5%Ti)搀杂石墨第一壁材料对壁滞留的影响 滞留速率的变化 得到不同放电参数下的壁滞留 得到不同器壁状态下壁滞留 ASIPP 研究不同条件下壁滞留机制为EAST未来全W金属壁的壁滞留进行比较 与其他装置比较，建立不同装置、第一壁材料的壁滞留数据库，为ITER装置相关问题研究提供数据积累 HT-7限制器装置与EAST偏虑器装置壁滞留比较 壁滞留机制 等离子体与壁相互作用的基本图像 吸附：主要是物理和化学吸附 离子植入： 高能离子和中性粒子的轰击，一些粒子将以比初始能量低的状态被散射出来。部分粒子将不会被散射出来，而达到材料原子结合所需的热能，并在材料的原子结构中居留下来。这些注入的粒子的深度分布是由注入粒子和靶材的能量、原子数决定的，可以达到饱和。 共同沉积： 被腐蚀的碳材料被电后，获得能量，并与氢同位素结合，并沉积到第一壁表面、阴影区等。 H:D可以达到1以上 共沉积方式滞留，并且氢和碳的共同沉积基本不受限制。 材料中扩散与渗透 与气体种类和材料结构相关 ASIPP 在1997年JET进行了长达6天80次的放电，其中等离子体持续时间为1953s，偏滤器工作时间为1237s 在最后一次放电（#41760）后，总的注入T是2.344*10^24，其中在放电期间抽出的T是7.85*10^23（占注入T的34%），而在放电中间释放的T是5.375*10^23（占注入T的23%） 国内外研究现状 JET JET 在最后一次50/50DT放电（#41713），在27次放电总没有大的放电破裂，总的注入的D是4.52*10^23（其中4.40*10^23是气罐注入，1.16*10^22是中性粒子束注入），在放电期间抽出的D是2.18*10^23（占注入D的48%），而在放电中间释放的D是1.18*10^23（占注入D的26%）。由此可知总的滞留量是1.16*10^23D，占注入D的26% 在一般情况下，T、D的滞留没有区别，但在改变D/T注入时会有区别。如果先注入T，再注入D，由于同位素交换的缘故会有更高的D滞留 国内外研究现状 JET JET JET在不同模式下的滞留： (L-mode(2MW),Tpye III(6MW5-10kJ),Type I ELMy H-mode(13MW-100kJ)) 国内外研究现状 JET TFTR(2000)和JET(1999)年实验中T滞留比较 TFTR JET Edge ne (m3) 1018-1019 1020 Edge Te (eV) 200-600 30 Total T injected (g) 5.2 (3.1+2.1) 35 (0.6+34.4) Initial retention during T gas puff fuelling (mostly isotope exchange) ~90% ~80% T retained during DT operation (excluding cleanup) 2.6 g (51%) 11.5 g (40%) Longer term retention (mostly co-deposition) 51% 17% T remaining in torus 0.6 g May 2000 2.1 g Dec 1999 Long term retention 12% 6% 国内外研究现状 TFTR(2000)和JET(1999)年实验中 T滞留比较 Tore Supra . Tore Supra上两次长脉冲的滞留量速率 国内外研究现状 Tour Supra Tore Supra上滞留量与放电时间的关系 国内外研究现状 Tour Supra JT-60U采用样品分析的方法进行壁滞留方面的研究 国内外研究现状 JT-60U TDS结果： 在以金属作为壁材料的高Z装置中（主要是A