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三坐标三坐标-关于复合位置度的测量-关于复合位置度的测量 三坐标三坐标--关于复合位置度的测量关于复合位置度的测量 邓小锋 郭帅帅 ( 西安爱德华测量设备股份有限公司 ) 摘要：本文详细说明了复合位置度的具体意义，GB 中的标示以及在AC-DMIS 中 复合位置度检测的原理和方法。 关键词：复合位置度 三坐标 PLTZF FRTZF 阵列位置公差 形体相关公差 孔系 一、引言 随着制造业的全球化，我们越来越多的会接触到国外的图纸,国外的标注方式.复合 位置度就是我们经常碰到的一种美式标注方式。要了解复合位置度，我们先回顾一下位 置度，位置度是指被测要素所在的实际位置对其理想位置的允许变动范围。位置度公差 有点的位置度、线的位置度和面的位置度。 而在实际加工中，孔系阵列的位置度 （即复合位置度）则较为常见。复合位置度公 差（如图一） 不仅给出了孔系相对于基准的定位公差，而且给出了各个孔系之间的相 互位置公差，与传统的只给出孔系相对于基准的定位公差相比，有较好的经济性，因此 得到了广泛的应用。 图一 二、复合位置度 复合位置度是 ASME Y14.5 M 即美国机械工程师学会制定的 “尺寸和公差标准”的 一种标法，主要应用于阵列形体，即一组具有相同尺寸大小和形状并按一定规律排列的 形体。阵列形体通常需要用上下框格的位置度控制： 上框格描述的是阵列形体作为一个整体的位置度公差，称为 阵列位置公差阵列位置公差 阵列位置公差阵列位置公差 Pattern-Locating Tolerance Zone Framework（PLTZF） 下框格描述的是阵列中各个形体相互之间的位置和方向公差，称为 形体相关公差形体相关公差 形体相关公差形体相关公差 Feature-Relating Tolerance Zone Framework（FRTZF） 从英文描述可以看出，上下框的公差都不是针对每一个具体的孔，而是一个几何 图框 （Framework），上框用于定位 （Locating）它是由基准A、B、C 及距离基准的理 论尺寸所确定，所确定的几何图框是唯一确定的。下框是各个孔间的联系 （Relating） 它由孔间距的理论尺寸所确定，所确定的几何图框不含基准，仅仅是各孔之间的联系。 上框的基准用于几何图框的定位，下框的基准用来控制几何图框移动的方向。 下框 （FRTZF）内如规定了基准，实际上就是控制了FRTZF相对于 PLTZF移动的方 向。如图一中的 FRTZF，实际就是表示每个孔相对与基准 A 的垂直度，不可以相对于 A 倾斜，但可以在PLTZF 中所确定的直径 0.8 的圆内移动或者旋转。若 FRTZF含有两个基 准 A 和 B，那就代表直径为 0.25 的圆柱体只可以沿 C 基准方向移动。最终的目的是通过 FRTZF 不断的移动使每个孔的轴线处在 PLTZF 和 FRTZF 的公差重合区内。注意，PLTZF 是固定不动的。 复合位置度在复合位置度在 GBGB 中的标注中的标注，如图二， 复合位置度在复合位置度在 GBGB 中的标注中的标注 图二 GB 中关于孔系的标注 在 GB 中位置度公差针对的仍然是一个几何图框，它由理论正确尺寸按确定的几 何关系联系在一起作为一个整体。如图所示，矩形布置的六孔组有位置度要求，六孔之 间的相对位置关系由保持