熔融制样X 射线荧光光谱法测定钠长石钾长石中多元素.docVIP

熔融制样X射线荧光光谱法测定钠长石钾长石中多元素 应晓浒 曹国洲 （宁波出入境检验检疫局，宁波，315012） 摘要：采用熔融制样X射线荧光光谱法测定钠长石和钾长石中的Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、Fe2O3、Rb、Sr、Y、Zr、Ba14个成分的含量，所得结果与化学分析结果相符，各组分测定33次的RSD在0.10%~4.67%。在试验过程中，对功率为1kW和4kW的两种波长色散型X射线荧光光谱仪的灵敏度和检出限进行了比较，并对仪器的精密度和长期稳定性进行了考察。 关键词：X射线荧光光谱；熔融制样；长石 中图分类号：O657.34 文献标识码：B 长石中的化学成分一般采用湿法化学分析法[1]分析，存在操作复杂、分析时间长等缺点，文献[2]采用压片制样X射线荧光光谱法测定钾长石的化学成分，获得了较满意的结果，但是由于是压片制样，样品的矿物和粒度效应较严重，要求校准样品和待测样品为同一矿源，获得一套好的校准样品有一定难度。 本文采用X射线荧光光谱仪同时测量钠长石和钾长石中的Na2O、MgO、Al2O3、SiO2、P2O5、K2O、CaO、TiO2、Fe2O3、Rb、Sr、Y、Zr、Ba14个成分的含量，制样方法采用熔融制样以消除样品的矿物效应和粒度效应，同时应用可变理论α影响系数校正元素间的吸收增强效应，提高测量结果的准确性。 考虑到目前市场上波长色散型X射线荧光光谱仪的种类较多，本文选择了两种功率不同的仪器进行了比较，以指出不同仪器进行长石日常分析时所选取的不同的测量条件。 1 实验仪器 S4 Pioneer型顺序式X射线荧光光谱仪，铑靶X光管，功率4kW；S4 Explore型顺序式X射线荧光光谱仪，铑靶X光管，功率1kW。此两款仪器均由德国Bruker AXS公司制造。仪器的测量条件见表1，每条谱线的测量时间根据测量要求由软件自动优化获得； VAA2型半自动燃气熔样炉，烧丙烷和氧气，温度可达1700℃。 表1 X射线荧光光谱仪的测量条件 Tab.1 Measurement Condition of X-ray Fluorescence Spectrometer 组分 Composition 谱线 Line 晶体 Crystal S4 Pioneer（4kW） S4 Explore（1kW） 电压V(kV) 电流I(mA) 计数器 Detector 电压V(kV) 电流I(mA) 计数器 Detector Na2O Na Kα OVO55 27 150 F-PC 20 50 S-PC MgO Mg Kα OVO55 27 150 F-PC 20 50 S-PC Al2O3 Al Kα PET 27 150 F-PC 20 50 S-PC SiO2 Si Kα PET 27 150 F-PC 20 50 S-PC P2O5 P Kα PET 27 150 F-PC 20 50 S-PC  收稿日期：2002－10－17；修订日期：2003－2－18 作者简介：应晓浒（1968年－），男，浙江省宁波市人，高级工程师，从事光谱分析工作。 K2O K Kα LiF200 50 81 F-PC 50 20 S-PC CaO Ca Kα LiF200 50 81 F-PC 50 20 S-PC TiO2 Ti Kα LiF200 50 81 F-PC 50 20 S-PC Fe2O3 Fe Kα LiF200 50 81 SC 50 20 SC Rb Rb Kα LiF200 60 67 SC 50 20 SC Sr Sr Kα LiF200 60 67 SC 50 20 SC Y Y Kα LiF200 60 67 SC 50 20 SC Zr Zr Kα LiF200 60 67 SC 50 20 SC Ba Ba Lα1 LiF200 50 81 F-PC 50 20 S-PC 2 实验结果及分析 2.1试料片的制备 称取7.5g Li2B4O7，1.5g试料 按所定的测量条件测定10个欧洲、美国和中国的长石标准样品，按公式1进行回归，求出校准曲线的斜率、截距和谱线重叠校正系数，用随机分析软件SpectraPlus中的可变理论α影响系数法进行基体效应校正。表2是基体效应校正前后的校准曲线标准偏差的变化，由于样品经熔融稀释，因此基体效应不严重。 Ci=s×（Ii+βij×Ik）×（1＋∑ij×Cj）＋b ……（1） 式中 Ci、Cj：测量元素和影响元素的浓度 S、b：校准曲线的斜率和截距 Ii ：测量元素的X射线荧光强度 βij