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第28卷第ll期 半导傣学报 V蕊.28No.1l
2007年11月 CHINESEJOURNALOFSEMICONDUCTORS NOV.,2007
表面处理对P—GaN欧姆接触的影响
郭德蒋b’ 粱 黄1 范曼宁1 瘴宏伟2 刭志强1 王嚣宏1 至嶷基1
(1中国科学院半导体研究所,北京100083)
(2河北科技掷瓶学院数学物理系,秦皇岛066004)
(XPS),比较了这些溶液去除p-GaN表面氧化层的能力;柱经不同溶液处理后的样品表面,以相同的条件制作Ni/
Au毫撅,势溅试其与p-GaN的毙接触毫阻,缨絮表爨经嚣盐酸处理露黪样品表露,由于其氧禽量较高,零能与Ni/
后,通过比较样品表面的Ga/N原乎浓度比,探讨了王水处理p-GaN表面能够形成良好欧姆接触的原因.
关键穗:GaN;致姆援魅;鏊形俺辕线模型
PACC:7340N
中图分类姆:TN312.8文献标识码:A 文章编号:0253—4177(2007)11-1811—04
缝去除荚表嚣氧化层,默{}l;降低Ni与P-GaN懿瓷
1 引言
得Pd/Au与P—GaN的接触电阻降低了2个数量
GaN是一种具有较宽的直接繁豫半导搭材料, 级;磊Jang等人£133在实验审尉耀稀盐酸去除≯
由予P型GaN的获得nt2】,使其被成功地应用于发GaN表面的氧化层;Chert等人[I钉采用电解盐酸溶
光器件的制备[3.41。然而对于一个好的器件,高质量
的获姆接触是至关重要盼,医炎如祭金震与GaN的 电阻.不同懿溶滚对P-GaN表嚣的氧化层都有腐蚀
接触电阻较大,则必然会导致高的电压降,从而影响 作用,但是究竟哪一种更有效,却没有相关报道.针
器件的性能.对于n型GaN来说,其上的电极制备对这一问题,作者分别用稀盐酸(HCl:H20=l:
不是闺题,目翦广泛采焉瓢/越基含金体系,可获得
眈接触电阻在lOq~10qQ·cm2范围的欧姆接
了各种溶液去除P.GaN表颟氧化层的能力;隧露,
触[5].但是,对于P型GaN来说,要获得较低的比接在不同溶液处理后的P—GaN上,制作Ni/Au电极,
触电阻却是一个难题.这主要是由以下薅个原因所 通过计算其比接触电阻,比较了不同溶液对Ni/Au
致嘲:首先罴对于P黧GaN,很难获得太于10堪与P.GaN之闻接触特性的影响。P.GaN表面的氧
含量,用x射线光电子能谱(XPS)进行测试,接触
cmq的载流予浓度;其次是P型GaN的功函数大
约为7。5eV,褥功函数大于7。5eV的金属或金属体电阻的测量采用圆形传输线模型(CTLM).
系十分有限.清洁的半羚体酶表面具有化学活性,容
易吸附其他原子,从而谯其表面形成一层氧化层.研 2 实验
究袭明,半导体表面的氧化层对载流子的输运起阻
碍传用[7q]。经MOCVD终延后的GaN表蔟,其主实验所蕉的GaN外廷片是采用金演有辊物化
要成分是GaO,以及吸附的碳.Ishikawa等人[10]计学气相沉积(MOCVD)技术,在蓝宝磊上生长得到
算表明:GaN表面厚度为2nm的氧化层,可以使肖的.其生长过程为:首先在蘸宝石衬底上,低温生长
特基势垒增加0。2~O.3eV。由此埘见,GaN表蘧的一薄层形核层,接着依次高潺生长l弘搬厚的非掺杂
褥染层对欧姆接触的影响很大,因此,在淀积金属之
前,GaN的表面预处理是十分必要的. 在750℃氮气环境下快速退火4min,以激活P型
曩前,用予去除P.GaN表露氧化层常用的溶液GaN。通过霍尔方法测得P*GaN层的空穴浓度为2
×1017cm一。
有:稀盐酸、童承以及(NI-h):S漆液等。Lin等入口司
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