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59 8 20 10 8
第 卷第 期 年 月 物 理 学 报 Vol . 59 ,No . 8 ,August ,20 10
1000 -3290 / 20 10 / 59 (08)/5749-06 ACTA PHYSICA SINICA 20 10 Chin . Phys. Soc .
*
射频磁控溅射法制备ZnS 多晶薄膜及其性质
谢 婧 黎 兵 李愿杰 颜 璞 冯良桓 蔡亚平 郑家贵
张静全 李 卫 武莉莉 雷 智 曾广根
( , 6 10064 )
四川大学材料科学与工程学院 成都
(2009 11 26 ;2009 12 22 )
年 月 日收到 年 月 日收到修改稿
ZnS , 、 ZnS
实验采用射频磁控溅射法在玻璃衬底上沉积了 多晶薄膜 研究了沉积气压 退火温度和衬底温度对
. X (XRD) , . -
薄膜质量的影响 利用 射线衍射 分析了薄膜的微结构 并计算了内应力值 通过紫外 可见光分光光度计
, Urbach . (SEM ) .
测量了薄膜的透过谱 计算了 能量和禁带宽度 利用扫描电子显微镜 观察了薄膜的表面形貌 结果
: ZnS , , 300 ℃
表明 衬底温度为室温时沉积的 薄膜具有较大的压应力 并且内应力值随着工作气压增大而增大 在 下
, 350 ℃ ZnS , , 300 ℃
进行退火处理后内应力松弛 衬底温度为 时制备的 薄膜内应力小 透过率高 经 退火处理后结晶
质量有所提高.
:ZnS , ,
关键词 薄膜 射频磁控溅射 内应力
PACC :7360 F ,7820 P ,7865 K
、 、
蒸发法 分子束外延法 金属有机化学气相沉积和
[5— 10 ]
1. 引 言 磁控溅射等 . 其中磁控溅射法制备的薄膜具有
、 、 、
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