高压下ZnSe纳米带的结构相变及拉曼散射研究.pdfVIP

　第 23 卷 　第 4 期 高 压 物 理 学 报 Vol . 23 , No . 4 　 　2009 年 8 月 C H IN ESE J OU RN AL O F H I GH PR ESSU R E P H YSICS Aug . , 2009 　 文章编号 : (2009) 04024 106 高压下 ZnSe 纳米带的结构相变及拉曼散射研究 1 2 2 2 2 2 2 3 金恩姬 , 姚立德 , 王菲菲 , 沈 　希 ,游淑洁 , 杨留响 , 蒋 　升 , 李延春 , 2 2 2 3 2 2 朱 　恪 ,刘玉龙 , 邹炳锁 ,刘 　景 , 靳常青 , 禹日成 ( 1. 北京石油化工学院数理系 ,北京 　1026 17 ; 2 . 中国科学院物理研究所 ,北京 　100 190 ; 3 . 中国科学院高能物理研究所同步辐射实验室 ,北京 　100039) 　　摘要 :利用高压原位角散 X 射线衍射实验研究了 Zn Se 纳米带的结构稳定性 。发现样品 在 126 GPa 附近存在一个从立方闪锌矿型到立方岩盐矿型的结构相变 ,并且在相变点附近存 在较大的体积收缩 ,相对体积变化率达 13 % 。利用 BirchMur naghan 状态方程拟合 ,得到了 ( ) 闪锌矿相的体弹模量约为 56 GPa ,略低于体材料的体弹模量 约 67 GPa ;并得到其立方岩盐 矿相的体弹模量约为 116 GPa 。高压拉曼散射实验结果表明 ,横光学声子模散射峰在 55 GPa 压力附近发生劈裂 ,纵光学声子模散射峰在 128 GPa 压力以上逐渐消失 。根据角散实验的体 弹模量数据 ,计算得到了闪锌矿相中对应不同声子模式的格林爱森常数 。 　　关键词 :Zn Se 纳米带 ;高压原位角散 X 射线衍射 ;结构相变 ;高压拉曼散射 　　中图分类号 : O52 1. 2 　　　文献标识码 :A 1 　引　言 　　 Ⅱ Ⅵ族半导体材料 , 由于其应用价值以及密切关联的众多物理问题 ,几十年来一直备受关注 。为 了研究 Zn S 或 Zn Se 等在光电器件的应用 ,需要深入了解它们的晶体结构 、电子结构以及晶格动力学性 能[ 15 ] 。就其结构特性而言 ,近几年来 ,一些研究小组在理论和实验方面做了大量的工作[ 610 ] ,并在不同 ( ) 的条件下分析了这类半导体化合物的晶体结构 。结果表明 ,它们在常温常压下为闪锌矿 ZB 型 或纤锌 ( ) 矿结构 ,而在高压下 ,转变为岩盐矿 R S 型 结构 。因而 ,研究这些半导体材料在压力下的结构相变 ,是 高压研究领域的一个重要课题 。 Zn Se 化合物是 Ⅱ Ⅵ族半导体材料中的典型代表 ,通常在室温条件下具有闪锌矿结构 。Smit h 和 Martin 等[ 10 ] 、Pier marini 和Block 等[ 11 ] 曾先后报导 ,在约 13 GPa 压力下 ,Zn Se 存在一个压力诱导的从 四配位闪锌矿型到六配位的岩盐矿型的结构相变 。It kin 等[ 12 ] 也发现其在对应结构相变压力点存在一 个半导体金属化相变