X射线测厚仪在宝钢1420轧机上的应用.pdfVIP

第八届工业仪表与自动化学术会议 X 射线测厚仪在宝钢 1420 轧机上的应用 Application of X-ray Thickness Gauge in the 1420mm TCM of Baosteel 任波伟 （宝钢集团公司宝钢分公司设备部，上海 201900） 摘 要：简要分析应用在 1420 轧机上的德国 IMS 公司 X射线测厚仪的测量原理、系统架构、性能指标及部分维 护要领。 关键词：X射线测厚 性能指标 Abstract ：This paper analyzes briefly the measuring principle,system frame, performance index and some points of maintenance of the X-ray thickness gauges which manufactured by IMS, applying in 1420 TCM. Keywords ：X ray thickness measurement Performance index. 0 引言 随着生产工艺对测量精度、测量稳定性要求的提高和旧设备的性能劣化，宝钢分公司 1420 冷轧轧机测厚仪更换改造于 2006 年10 月年修期间实施完成，把原来 3 台DMC 公司的 480 型测厚 仪改造为德国 IMS 公司的 X 射线测厚仪。至此，分别位于 1 机架前后、5 机架前后的 4 台冷轧带 钢测厚仪全部为技术先进、集成化程度高、性能稳定可靠、测量精度高的德国 IMS 公司的X 射线 测厚仪，为稳定生产、提高产品质量、增加产能提供了有力的保证。 1 系统分析 1.1 X 射线测厚原理 X 射线穿透物质时的衰减规律是 X 射线测厚仪测量的理论基础，光电式传感器将射线强度的 变化转变为易于检测、处理和传输的电量变化。如图 1 所示，当 X 射线投射到被测物后， 一部 分射线为被测物吸收， 一部分射线穿过被测物，穿过被测物质后的射线强度， 在物质成分一定 的情况下，和被测物的厚度和密度有关，若被测物的密度为已知时，则可以根据检测到的射线强 度来计算出被测物质的厚度。X 射线测厚仪就是基于此关系原理制造而成的测厚系统。 X 射线通过物质时部分被吸收，其强度被衰减，经衰减后的强度按指数曲线下降, 其吸收关 系式为 I =I0 EXP（-ρu’ s ） （1） 式中，I 为探测器上探测到的被衰减后的射线强度， I0 为X射线源发射的初始辐射强度, ρ 为被测材料的密度，u’为材料对 X 射线的质量吸收系数，s为被测材料的厚度。 1.2 IMS 测厚仪系统结构 4 台测厚仪的现场测量框架—C 型架分别位于 1 机架前后、5 机架前后，对应的测厚仪系统装置 命名为 T0、T1、T4、T5。T0 测出的厚度值送给轧机基础自动化控制系统，参与前馈控制；T1、 T4、T5 由于位于轧机后，其测量值则参与反馈控制，4 台测厚仪的测量结果、测量精度和运行状 况将直接影响轧机轧制的精度、产品质量和产量。 1 第八届工业仪表与自动化学术会议 电流 Im 处理电路 探头 厚 被测介质 度