X射线衍射应用--点阵参数精确测定.pptVIP

多晶体X射线衍射分析的应用三、点阵参数精确测定 燕山大学材料学院综合实验室 燕山大学材料学院国家实验教学示范中心 点阵参数是晶体的重要基本参数。任何结晶物质在一定的状态下都有恒定的点阵参数，当外界条件(例如温度、受力状态)和化学组分改变时，点阵参数将会发生相应的改变，在金属学及热处理的许多间题中，通过点阵参数的测定可以确定固溶体的组分和类型、过饱和固溶体中析出相沉淀与溶解过程、合金相溶解度曲线(相图的相界)、宏观应力大小、错配度以及化学热处理表面渗层结构等。对各种物质进行点阵参数的精确测定还有助于研究其健合能、密度、膨胀系数等。一般来说，上述情况引起点阵参数的变化是一个微小量，约为10-3nm数量级，因而通过各种途径，设法消除在测量过程中的一切可能误差，测定点阵参数的精确数值十分必要。 一、基本原理 用X射线法测定物质的点阵参数，是通过测定某晶面的掠射角? 来计算的。以立方系为例： 当?? 一定时，sin?的变化与? 所在范围有很大关系，如图所示。可以看出，当? 接近90?。时其变化最为缓慢。假如在各种? 角度下测量精度?? 相同，则在高?角时所得的sin? 值将会比在低角对的要精确得多。对布拉格公式进行微分，可以得出以下关系： ?d/d=-ctg? ?? 同样说明，当?? 一定时，采用高? 角的衍射线面间距误差?d/d (对立方系物质也即点阵参数误差?a/a )将要减小；当? 趋近于90?时，误差将会趋近于零。 二、衍射仪法测定点阵参数 1、 衍射峰位2?角的精确测定 衍射仪法精确测定点阵常数的原始数据是衍射峰位2? 角。因此，精确测定衍射蜂位的2? 角是精确测定点阵常数的基础。为此，必须采用精密的测试技术。 (1) 测角仪机械零点校正 测角仪机械零点调整的不精确，往往是点阵常数精确测定的主要误差来源。因此，精确测定点阵常数之前，必须准确地校正测角仪的机械零点。零点偏移应＜?0.005?。经校正视械零点后，测角仪2?角的测量误差应不大于0.01?。 (可以通过标准样进行校正) (2) 测试条件的选定 根据被测点阵常数的物相，选用合适的辐射波长，以便在? 大于50?的区域有较多的衍射峰。为了获得较高的角分辨率，最好使用衍射束晶体单色器；选用尽可能小的接收狄缝光阑。为了提高测量精度，最好采用步进进扫描测量法，选用较小的步长(0.01?)和较长的步进时间，使衍射峰顶附近的每步计数大于2×10-4。若用连续扫描测量， 扫描速度应不大于1/8度，测量过程中，环境温度波动应不大大1℃。 (3) 原始数据处理 对衍射峰值2? 角的原始测景数据要进行平滑处理、扣除背底，然后．根据不同的衍射峰形，选用切线法、弦中点或弦中点连续法、三点或五点抛物线法、重心法等确定衍射峰2? 角的精确值。当用有计算机机控制运行的现代X射线衍射仪时，也可用数据处理程序，对原始测量数据进行处理，用自动寻蜂程序确定衍射峰位2? 角的精确值。 2、误差来源 (1) 可通过实验方法消除的误差 (a)测角仪末精确调准引起的误差 (b)测量记录系统滞后引起的误差 可采用下列办法消除或减小： i)顺时针和逆时针双向扫描，取平均值定峰位； ii)步进扫描记录； iii)用标准样品校正。 (2) 可通过衍射角2? 外推到180?消除的误差 (a) 试样表面偏离测角仪中心轴 ?2?1=(2S/R)cos? (b) 试样的吸收 ?2?2=k2sin2? (c) 平板试样 ?2?3=k3sin2? (3) 可用外推法部分消除的误差 主要是由入射和衍射线束的轴向发散度引起的 ?d/d= ?A?2－B?2cot2? 式中：? 索拉狭缝张角；A、B为常数 B?2cot2? 项可通过外推消除； 而?A?2不能消除 (4) 不能用外推消除的误差 (a) 折射校正 X射线从空气中地入试样时将产生折射。因折射率非常接近于1，所以，在一般情况下不必考虑它的影响。但是，点阵常数的测量精度为10-5数量级时，就要校正折射的影响。 其校正公式为: (b) 温度校正 点阵常数的精确测定应在规定的标准温度T