粉末压片制样X射线荧光光谱法在监控铜选矿流程中的应用.pdfVIP

第30卷，第1期 光谱实验室 V01．30。No．1 20l ChineseJournal 0 of 13 3年1月 SpectroscopyLaboratoryJanuary，2 粉末压片制样一X射线荧光光谱法 在监控铜选矿流程中的应用 龙海珍 孔会民① 马富超 申卫龙 (巴彦淖尔西部铜业有限公司质检中心 内蒙古巴彦淖尔市临河区解放街2号015000) 摘 要应用x射线荧光光谱仪监控铜选矿流程，采用粉末压片法制样，确定了仪器最佳参数，建立 了校准曲线。经北京矿业研究总院验证，原矿偏差小于士0．024％，尾矿偏差小于士0．004％，精矿偏差不大 程原矿、尾矿、精矿中的铜的准确度、精密度均可满足对选矿的监控。 关键词原矿；尾矿；精矿；铜；X荧光光谱法；压片制样 中图分类号：0657．34文献标识码：A 文章编号：1004—8138(2013)01—0141—04 1 引言 近年来，全球铜价上涨，而我国铜矿资源又相对短缺，导致对铜精矿需求急剧上升，我国的铜消 耗量已占全球总量的1／5左右，成为全球最大的现货铜精矿消耗国‘1|。作为以生产销售铜精矿为主 的矿山企业，提高选矿回收率是提高企业效益的重要手段之一。早在1987年地矿部与国经委就下 发通知把选矿回收率和开采回收率、采矿贫化率一起列为考核矿山企业对矿产资源综合回收利用 的重要指标。特定的矿山矿脉和开采技术采矿贫化率和开采回收率基本确定，这时的选矿回收率就 显得尤其重要，对选矿的监控也势在必行。以往测试原尾矿一般用原子吸收光谱法、极谱法、电感耦 合等离子体一发射光谱法等乜-43，精矿用滴定法嘲，这些方法过程相对繁琐、样品处理麻烦、操作复 杂、分析时间长。而粉末压片制样一XRF法分析避免了用盐酸、硝酸、浓硫酸等强酸高温分解样品， 减少了对环境的污染，消除了危险化学品的使用风险，大大提高了安全性，样品处理也比较简便，同 时具有分析速度快、分析含量范围宽、重现性好、准确度高等优点[6_11j。同时本文通过控制样品粒 度小于等于0．074mm，消除了样品粒度对测试结果的影响。 2 实验部分 2．1仪器及测量条件 东北方科学仪器有限公司)；WFX一1 10型原子吸收分光光度计(北京瑞利公司)。 ①联系人，手机：(oE—mail：zoozkonghuimin@163．corn 作者简介：龙海珍(1973一)，男．西宁市人，化学分析工程师，主要从事矿石分析工作。 孔会民(1983一)，女．山东省荷泽市人，工程师，硕士，主要从事矿石分析工作。 收稿日期：2011—11—23；接受日期：2012—01—05 万方数据 142 光谱实验室 第30卷 注：PHD是通过脉冲高度分析器递择出的脉冲幅腰的最小和最大圃值，是从果些干扰线和散射线中分辨出来的分析线脉冲信 号。在某种程度上，可以用来消除干扰和降低背景，以改善分析灵敏度和准确度。 2．2试样的制备 在生产流程中取原矿、尾矿、精矿，经过手工研磨，用200目样筛筛分，用四分法得到测试样品， 30mm，厚度3ram的样片。用洗耳球将样片表面的粉末吹干净，按顺序放置待测。 3 结果与讨论 3．1基体效应影0向的消除 XRF分析中的基体效应是影响光谱强度准确测定的因素。压片法的基体效主要由试样的粒 度、矿物结构引起口21。西部铜业公司获各琦铜矿是一个复杂的多金属矿体，在不同的矿体位置形成 了不同的矿体类型n引，会对压片制样一XRF法的结果产生影响。一定波长的谱线的强度在一定范围 内与粉末样品的颗粒度有关，当颗粒尺寸小到一定程度时，荧光强度趋于稳定[14|。因此，本次研究 固定研磨时间，过200目筛，消除矿样粒度的影响，又选取矿区的多组样品，研究矿物结构对测定结