基于IEEE1149．7标准的CJTAG测试设计方法研究.pdfVIP

基于 IEEE1149．7标准的CJTAG测试设计方法研究木 陈寿宏 ，颜学龙 ，黄 新 (桂林 电子科技大学 电子工程与 自动化学院，广西 桂林 541004) 摘 要 ：在深入研 究IEEE1149．7标准的基础上 ，针对测试 问题 设计 了CJTAG测试控制器，实现 了 T0、Tl、T3和 T4层级的主要功能。对该控制器的各个功能进行 了仿真验证。结果表明该控制器产生的 测试信号符合 IEEE1149．7标准的规定 ，能够控制待测芯片实现相应 的测试功能 ，取得 了较好 的测试 效果 。 关键 词 ：IEEE l149．7；CJTAG；测试控制 器 ；边界扫描 中图分类号 ：TN407 文献标识码 ：A 文章编号 ：0258—7998(2013)01-0079—03 ResearchofthetechnologyofCJTAG testmethodbasedon IEEE1149．7 Chen Shouhong，Yan Xuelong，HuangXin (SchoolofElectronicEngineeringandAutom