基于比色测温的光谱曲线校正.pdfVIP

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  • 2017-09-13 发布于重庆
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第32卷 第 12期 核 电子学与探测技术 Vo1.32 No.12 2012年 12月 NuclearElectronics DetectionTechnology Dec. 2012 基于比色测温的光谱 曲线校正 司洋,杨兆飞,王鉴,韩焱 (中北大学电子测试技术国家重点实验室 ,太原 03005I) 摘要:在CCD比色测温法中光谱曲线峰值大小决定滤光片的选取以及波长的选取。为了减小单色 仪对光谱曲线标定造成的误差,最大程度还原曲线特性,论文用多种插值方法对曲线进行了校正,并对 曲线进行了离散化,结果表明离散的三次样条插值法能够最大程度地还原光谱曲线。实验结果表明,把 修正离散后的数据代人的比色测温公式中,计算所得的温度更接近真实温度,有效地降低了实验误差。 关键词:比色测温法 ;三次样条插值 ;离散化曲线;带宽 中图分类号:TK311 文献标志码:A 文章编号: 025843934(2012)12.1446-04 温度是一个及其重要的待测参数,在工业 热处理过程中有着重要地位。目前测量

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