20Cr1Mo1V（Nb）TiB紧固件晶粒级别超声二次底波法检测技术研究.pdfVIP

内蒙 古 电力 技 术 I2 iNNERMONGOLIAE1ECIRJCPOWER 20l2年第3O卷第6期 20Cr1Mo1V(Nb)TiB紧固件 晶粒级别超声 - ·_ ‘ 次底波法检测技术研究 王立新’。孙常明’。田 峰’。何延善 。李银松 (1．内蒙古电力科学研究院，内蒙古 呼和浩特 010020；2．北京鑫星大地物资供应有限责任公司，北京 100028； 3．北京中矿环保科技股份有限公司，北京 100080) 摘要：基于材质粗大晶粒对超声波散射衰减原理，使用A型脉冲超声波反射法研究了 20CrlMo1VfNb)TiB紧固件 I类(晶粒级别 1、2级)、Ⅱ类(晶粒级别3,4级)和Ⅲ类(晶粒级别5级) 晶粒级别的检测方法。结果表明：各晶粒级别对超声波的散射衰减影响显著，且随着探测频率的 增加而增大。在相同探测频率下，一次底波波高为满刻度8O％时，I类与Ⅲ类紧固件相比，二次 底波波高平均值低7．61％～28．1％，波幅值平均值高l0．6～l5．8dB；1／类和Ⅲ类紧固件相比，二次 底波波高平均值低6．7％～9．4％，波幅值平均值高4～5．6dB。当探测频率为5MHz、10MHz时。粗 晶(I、Ⅱ类)紧固件对超声波的散射衰减更为明显。用该方法可有效检测20cr1Molv(Nb)TiB紧 固件的晶粒级别，检测方法具有效率高、便捷、准确及无损材质等优点。 关键词：超声二次底波法；20CrlMolV(Nb)TiB；紧固件；晶粒级别；金相法；散射衰减 文献标志码 ：B 文章编号：1008—6218(2012)06一O012—05 20CrlMolV(Nb)TiBFastenersGranularityGradesStudyBasedon Uhrasonic Second Bottom Echo Method WangLixin，Sun Changming，Tian Feng。，HeYanshan，LiYinsong3 (1．InnerMongoliaElectricPowerScience ＆ ResearchInstitute．InnerMongolia Hohhot 010020； 2．ReijingXinxinDadiTradingCo．，Ltd．．Beijing 100028；3．ReijingZhongkuang 3．EnvironmentalProtectionScienceAndFechnologyCo．，Ltd，Beijing 100080) Abstract：Based on the scattering attenuation principleto ultrasonic wave，the detection techniquewasstudied forgranularitygradesof20CrlMolV(Nb)TiB fastenersbyusingan A—type ultrasonic pulse reflecting method．Results show the effectof different granularity grades on the ultrasonic scattering attenuation is significant，the scattering attenuation in everyfastenertoultrasonic wave increaseswith the increase oftheproberfequency．In the same frequencies，when the firstbottom echoheightiS 80％ ofthefu