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1824 福建分析测试 技术交流 2003,12(3)
表面镀锗对X射线荧光能谱测定白色K金首饰成分
含量影响的研究
李叶农
(福建省测试技术研究所，福建，福州 350003)
摘 要 本文研究表面镀锗对X射线荧光能谱测定白色K金首饰成分含量影响，用一次靶(Rh)测首饰成分含量，
用二次靶(Sn)测镀层厚度，系统研究含量与镀Rh层厚度之间函数关系。结果表明随着锗层厚度增加，所测的Au,
Ag元素含量将会增加。Cu,Ni元素含量将会减少，因此必须进行修正。
关扭词 表面镀锗;X射线荧光能谱分析
SurfaceplatedRheffectstheanalyticalresultsinED一XRFanalysis
ofwhitekaratgoldjewelery
LiYenong
(FujianInistituteofTestingTechnology,Fuzhou，Fujian,350003)
AbstractSurfaceplatedRheffectsontheanalyticalresults，inED一XRFanalyrisofwhitekaratgoldjewelries，
thecontentofAnandAgisincreasing,thecontentofCuandNiisdiscreasingwhenthethichnessRhcoatingis
increasing.
KeywordsSurfaceplatedRh;ED-XRF
表1元素波长裹(A0)
1 引 言
元素 _Au Ag Cu Zn Ni Rh
当今流行一种白色18K金首饰。白色K金实际 (La) (Ka) (Ka) (Ka) (Ka) (Ka)
上是黄金饰品 (主要成分Au,Ag,Cu,Zn)的合 波长 1.28 0.56 1.54 1.44 1.66 0.61
金中按照一定比例加入镍 (Ni)或把 (Pd)成分，使 吸收限波长 0.863 0.486 1.38 1.28 1.49 0.53
其颜色变白。为了增加其美观和增强耐磨性并防止
退色常在表面镀上一层锗。当用X射线荧光能谱测 农2 元素对特征X射线的质f吸收系擞
定此种样品时，镀铐层厚度将影响测试，导致结果
偏差。经查国内外文献，尚无此方面研究报导。本 特征 Au Ag Cu Zn Ni X射线
X射线 (La) (Ka) (Ka) (Ka) (Ka)(0.276A0)
文针对镀铐层厚度对用X射线荧光能谱测定白色 吸收体(Rh)
18K金元素含量影响进行研究，取得满意结果。 厘米2/克 115 13.1 190 159 236 8^-15
2 原理与方法
由于Cu,Ni波长长，Rh层对其衰减质量吸收
当原级X射线穿过镀层激发K金首饰时，原级 系数分别为236,190厘米，/克，为正吸收。而Ag波
X射线被Rh层吸收而衰减并激发出Rh特征谱线。 长短，Rh层对其衰减质量吸收系数为13.1厘米2/
见表1,Rh特征谱线波长小于Au,Cu,Ni吸收限 克，少而可忽略不计，相当 “负吸收”，为增强效应;
波长，故Rh特征谱线能二次激发Au,Cu,Ni但激 而金，Rh对其衰减质量吸收系数为115厘米州克，
发效率低。当被衰减原级X射线，Rh射线激发出 但采用多元素回归法计算将白色K金
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