磁头内置DFH控制元件可靠性的有限元分析.pdfVIP

第 10期 电 子 学 报 Vo1．40 No．10 2012年 1O月 ACI1A ⅡECⅡt0NICA SINICA Oct． 2O12 磁头内置DFH控制元件可靠性的有限元分析 肖祥慧 ，彭敏放 ，黎福海 ，詹 杰 ，唐荣军 (1．湖南大学电气与信息工程学院，湖南长沙410082；2．湖南科技大学物理学院，湖南湘潭411201；3．13本TDK集团，广东东莞 523000) 摘 要：磁头内置DFH控制元件的可靠性设计评估十分重要，目前工艺上多采用经验数据指导的方法 ，误差十 分大，理论上是根据传统流体力学的基本原理，利用Matlab软件实现模拟评估的，由于元件尺寸限制，模拟算法会随着 舍入误差的叠加而失效．本文使用ANSYS软件，通过实验获得建立模型的基本参数，选择了合适的单元类型、材料属 性，给出了磁头的有限元模型．利用模型对元件进行的寿命预测实验表明，有限元模型分析 DFH控制元件的设计可靠 性问题是有效的，并且得出以下结论：在500的新型DFI-I计算结果中，其热效应强度比传统屏蔽层大 10％以上，实际 的寿命失败样品问题区域都在线路的转角处． 关键词： DFH；可靠性分析；有限元；热效应；电流拥挤效应 中图分类号： TM271+．2 文献标识码： A 文章编号： 0372-2112(2012)10-2140-05 电子学报URL：http：／／www．ejourna1．org．ca DOI：10．3969／j．issn．0372—2112．2012．10．040 TheFiniteElementAnalysisforReliabilityofBuilt-DFH inMagneticHead XIAOXiang．hui，PENGMin．fang，LIFu．hai，ZHANJie2，TANGRong-jun3 (1．InstituteofElecandInformationEngineeringinHunanUniterstiy，Changsha，Huaan410082，China；2．SchoolofPhysics inHnaanUniversityofScience＆Techno／ogy，X／angtan，Hunan411201，hCn／a；3．JapansTDKGroups，Donggnan，Gnangdong523000，hCn／a) Abstract： TheassessmentforthereliabilitydesignofBuilt-DFH inMangeticheadisveryimportant．ItrecurrentlyUesShte empiricaldatatoinstructhteproductioninthecraftnow ．Unfortunately，hteelTorisverylarge．Theoretically，everybodyissimulat— inghtereliability咖 hteMatlabsoftware．Owingtohtelimitofhtecellsize，htesimulationalgorithmwillexpirealongwihthte roundingerrorsuperimposition．ThisarticleusestheANSYSosftware．Th eexperimentWas ot establishhtebasicparna~tersandes— lecthteappropriatecelltype，materialpropertiesandgivehtefiniteelementmodelofhtehead．Th eresultsaccordingot htelfiepre— dictionusinghtemodelaboveshows，thefiniteelementmodeliseffective．Furthermore，innew DFH in5130，h