基于FPGA的SIFT特征点检测.pdfVIP

高技术通讯 2012年 第22卷 第4期：429～435 doi：10．3772／j．issn。1002-0470．2012．04．015 基于 FPGA的SIFT特征点检测① 肖 晗② 原 魁③ 何文浩 柴晓杰 (中国科学院自动化研究所 北京 100190) 摘 要 为了在现场可编程 门阵列(FPGA)中用硬件 电路实现尺度不变特征转换(SIFT) 特征点的实时检测，对原算法进行了改进 ，提出了一种基于面密度插值法和双重极值点约 束的新方法。该方法显著提升 了SIFT特征点的尺度不变性，同时有利于提高定点数 的计 算精度。在此基础上，设计 了一种高效率的硬件计算方案，将所有的计算步骤都实现在 了 流水线结构中，并在 FPGA上完成了开发工作。与现有研究成果相比，这种高效的方案非 常节约硬件资源 ，大大降低 了硬件成本，同时又大幅度提高了计算精度。系统能够在采集 图像的同时完成特征点的检测。对于360X288大小的图像，其理论最高处理能力为303 帧／秒；由于受到摄像头的图像采集速度限制，目前的实