快速瞬变脉冲群测试的失败原因及对策.pdf

维普资讯 电子 产 品 可 靠 性 与 环 境 试 验 vol。25No．iFeb．2007 快速瞬变脉冲群测试的失败原因及对策 朱文立 (信息产业部电子第五研究所 ，广东 广州 510610) 摘 要 ：介绍了电子产品快速瞬变脉冲群形成机理及相应的测试方法，综合其他研究者的成果及笔者的实践 经验．针对快速瞬变脉冲群影响电子产品的不同特点提出了相应的埘策方案，以方便电子产品设计人员及电磁 兼容对策工程师在实际工作中参考、验证、改进和完善。 关键词：电子产品；电磁兼容；快速瞬变脉冲群；设计；对策 中图分类号：TN03 文献标识码 ：A 文章编号：1672—5468 (2007)01-0005-06 CauseAnalysisofEFT／B TestFailureand Countermeasures ZHU Wen—li (CEPREI，Guangzhou510610，China) Abstract： The mechanism of E丌 ／B generated in electronic products and the related measurementmethodsarediscussed in thearticle．Todifferentelectronicproducts．E兀l／B wil1 producedifferenteffects．Basedontheotherresearchers andtheauthorSworkingexperiences． somecountermeasurestotheeffectsofEFT／B areproposedtohelptheelectronicproduct designersandEMCengineerstoimproveandoptimizetheirwork． Keywords：electronicproduct；EMC；EFT／B；design；countermeasure 1 引言 工作原理、测量方法及试验发生器等进行了详细的 规定．成为其它相关标准引用和参考的基础。EFT 电子电气设备抗扰度试验的经验表明，有必要 抗扰度作为产品EMC的重要项 目，已被列人大多 对具有较高重复频率的快速瞬态试验进行模拟以考 数产品或产品族的EMC标准中。 察敏感设备的相应抗扰性能，为此 ，国际电工委员 目前 。通用的EMC设计和对策方面的书籍和 会 (IEC)制定了相应的试验标准 IEC61000—4—3 文章 比较多 ，但涉及 E丌 项 目的设计和对策方面 《电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群 的书籍和论文还很少 。本文通过综合其他研究者的 (EFT)抗扰度试验》 (我国将该标准等同转化为 研究成果并结合 自己多年的检验工作实践 ，针对 国家标准 GBT／17626．4)。该标准对 EFT 的定义 、 EFT 对 电子产品的不同影响特点，提出相应的对策 收稿 日期 ：2Oo6一o9—05 修回 日期 ：2O06—10-09 作者简介：朱文立 (1968一)，男，湖北赤壁人，信息产业部电子第五研究所安全与电磁兼容检测中心高级工程师，主要从事电磁 兼容设计与检测技术研究工作。