碳电极材料石墨化度和无序度的X射线衍射测定.pdfVIP

2009年 第 23卷 第2期 测 试 技 术 学 报 V01．23 No．2 2009 (总第 74期) JOURNAL OFTESTAND MEASUREM ENTTECHNOLOGY (Sum No．74) 文章编号：1671—7449(2009)02-0161—07 碳电极材料石墨化度和无序度的 X射线衍射测定 李 辉 ，杨传铮 ，刘 芳 (1．上海杉杉科技有限公司，上海 201209；2．中国科学院微系统与信息技术研究所 ，上海 200050) 摘 要 ： 介绍 了测定碳电极材料石墨化度 g和无序度 P 的X射线衍射 (XRD)原理与方法 ，包括从二维 (1O)和 (11)衍射 的Fourier分析、全谱拟合法以及利用石墨化度 g与 dooz之间的关系曲线的方法．提出 由 求g的方法和新公式．进行 了石墨化度与无序度测定的实验研究，包括不同实验条件对全谱拟合结果 的影响、不 同求解 d 的影响，以及 d 法、 。法与全谱拟合法的比较．结果表明，全谱拟合法求得 的无序 度 P 。在用 d。。法的直线和曲线测得 的结果之间，d 法和 Oooz法测得 的g符合很好．提 出全谱拟合法和用 Si粉作 内标样 的 d。。及 巩。z法的衍射实验测定最佳方案． 关键词 ： 石墨化度 ；无序度 ；全谱拟合 ；d 法 ；X射线衍射 中图分类号： TM91l1 文献标识码 ：A DeterminingGraphitizati0n andDisorderedDegrees in 2H-GraphitebyX-RayDiffractionM ethods LIHui，YANG Chuanzheng。，LIU Fang (1．ShanghaiShanshanScienceTechnologyCo．Ltd．，Shanghai201209，China； 2．ShanghaiInstituteofMicrosystem andInformationTechnology，CAS，Shanghai200050，China) Abstract： Theprinciplesandapproachesfordetermininggraphitization (g)anddisordereddegree(户) incarbonelectrodematerialsusingX—raydiffraction (XRD)areintroduced，which includetheFourier analysisoftwodimensionaldiffraction (10)and (11)，thewholespectrum fittingmethodandthe approachusingtherelationshipcurvebetweengraphitization (g)andd0o2．A novelmethodofcalculating g from 00o2isproposed．Therelated experimentalstudiesfordetermining the graphitization and the disordereddegreearecarriedout，whichincludetheinfluenceofdifferentexperimentalparametersOnthe resultsofthewholespectrum fitting，theeffectofdifferentmethodsofsolution doo2ontheresultsof graphitization (g)aswellasthecomparisonamong do02，0∞2andthewholespectrum fittingmethods． Theseresultsshow thattheP ~obtainedbythewholespectrum fittingmethodisbetweentheresultsof thestraightlin