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ICS?29.045
H 83
????? DB??
广东省地方标准
DB XX/ ?????—XXXX
?????
LED衬底 第3-4部分:
蓝宝石图形化衬底片测试技术规范
LED substrate —Part 3-4:Testing technical specification
for patterned sapphire substrate
点击此处添加与国际标准一致性程度的标识
(征求意见稿) ?????
XXXX - XX - XX发布 XXXX - XX - XX实施
广东省质量技术监督局???发布
目????次
前????言 II
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 测试要求 2
5 测试方法 3
附录A(规范性附录) 扫描电子显微镜测试图形化衬底片的图形结构参数 6
附录B(规范性附录) 原子力显微镜测试图形化衬底片的图形结构参数 7
附录C(规范性附录) 共聚焦显微镜测试图形化衬底片的图形结构参数 8
附录D(规范性附录) 金相显微镜测试图形化衬底片的表面质量 9
附录E(规范性附录) 自动光学缺陷检查设备分类测试图形化衬底片的表面质量 10
附录F(规范性附录) 多点数值法测试图形化衬底片的图形一致性 11
附录G(规范性附录) 反射谱扫描图示法测试图形化衬底片的图形一致性 12
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009的规定编制。
本标准的某些内容可能涉及专利,本标准发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由东莞市中镓半导体科技有限公司提出。
本标准由广东省质量技术监督局归口。
本标准起草单位:东莞市中镓半导体科技有限公司、广东赛翡蓝宝石科技有限公司。
本标准主要起草人:丁晓民、张能、刘南柳、戴立忠、杨鹏、康凯、张国义。
本标准为首次制定。
LED衬底 第3-4部分:蓝宝石图形化衬底片测试技术规范
范围
本标准规定了用于制备LED的蓝宝石图形化衬底片的测试技术规范,包括蓝宝石图形化衬底片的图形结构参数、表面质量、图形一致性等的测试。
本标准适用于制备半导体照明器件的氮化镓外延生长所用蓝宝石图形化衬底片。
规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 14264-2009 半导体材料术语
GB/T 20307-2006 纳米级长度的扫描电镜测量方法通则
SJ/T 1395-2009 半导体照明术语
术语和定义
GB/T 14264-2009 和 SJ/T 11395-2009 界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
蓝宝石图形化衬底片(PSS) patterned sapphire substrate
在蓝宝石基底上,制作出具有周期性阵列排布的细微图形结构的衬底片。
图形节距 pattern pitch
蓝宝石图形化衬底片上,相邻图形几何中心点之间的距离。
图形高度 pattern depth
以蓝宝石基底平面为基准面,单个图形沿基准面法向的高度。
图形底宽 pattern bottom width
蓝宝石图形化衬底片上,图形底部区域的最大宽度。
图形间距 pattern space
蓝宝石图形化衬底片上,相邻图形边沿之间的最短距离。
边宽 edge exclusion
蓝宝石图形化衬底片上,边缘质量不合格区域的宽度。
图形缺失 pattern loss
蓝宝石图形化衬底片上,周期性阵列排布的图形在局部区域出现无图形或图形被破坏的区域。
格线 grid line
步进式投影光刻机制备的PSS产品,外观呈现网格状色差。
拼接 mis-alignment
步进式投影光刻机制备的PSS产品,图形结合不完整或移位。
图形一致性 pattern uniformity
在蓝宝石图形化衬底片上,图形之间结构尺寸的离散程度。
测试要求
测试环境
标准测试环境
温度:25℃±10℃;
相对湿度:50%±10%;
洁净度:ISO 5级(必要时);
气压:86 kPa~106 kPa;
无影响测试准确度的机械振动、电磁和光照等干扰。
仲裁测试环境
温度:25℃±1℃;
相对湿度:50%±2%;
洁净度:ISO 5 级(必要时);
气压:86 kPa~106 kPa;
无影响测试准确度的机械振动、电磁和光照等干扰。
测试设备
量程、偏移、稳定性、分辨率和不确定度应符合相关标准的规定;
应按规定间隔进行检定或校准,并有检定或校准证书,有明确的标志;
有以标准形式发布的计量检定规程和校准规范。
测试方法
图形结构
测试项目
图形节距;
图形高度;
图形底宽;
图形间距。
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