基于DIC表面运动修正的ESPI测量英文翻译.docVIP

英文翻译 课题名称：基于dic的非接触式全场应变测量系统设计 学院(系)： 里 仁 学 院 年级专业：09级工业自动化仪表2班 学生姓名： 指导教师： 林 洪 彬 完成日期：2013年4月28日 基于DIC表面运动修正的ESPI测量 摘要： 电子散斑干涉（ESPI）提供了一种灵敏的用于测量表面变形的技术。该技术涉及到比较材料变形前后表面图像的散斑相位角的变化。这个相位角的比较需要斑点的位置在所有图像中是一致的、。一个像素的图像集间的横向移位只是一个像素大幅降低的ESPI测量，当其中的两个或更多个像素的移位通常会导致完整去相关和完全的妥协测量。为了防止这种刚体的运动，样本和光学系统必须被牢固地固定。通常，这会妨碍在实验室之外，或需要ESPI测量时在光学装置之间取出样本的地点应用这种方法。在这里，数字图像相关（DIC）是用来跟踪ESPI相位阶梯图像集之间样本位移所导致的斑点移动。这些被测量的图像集可以用数学的方法转换，以恢复原来的斑点位置，从而使 ESPI测量相互联系。示例将展示如何成功地将ESPI测量应用到标本超过60像素的转换中的方法。 引言： 电子散斑干涉法（ESPI）是一种干涉技术，通常用于表面测量。一些典型的应用包括表面变形测量，无损检测，振动模式形状可视化。 ESPI，从相干光源发出的光被分成两部分，在样本表面上重新组合，然后使用数码相机的成像。将在被测表面所得的干涉图案调制成其表面的微观粗糙度，以产生一个随机的明和暗的斑点图案。每个斑点的强度取决于其重组光束的局部相对相位。每个像素的局部相位由相步进的组件光束决定。然后根据测量的需要代替成像的表面，计算新的像素的相位角。最后，从测得的像素的相位变化来确定所测得的表面的变形。 ESP测量的质量严重依赖于准确记录的测量之前和之后的散斑表面变形的图像集。斑点是随机分布的，所以相邻的斑点具有随机不同的局部相位。因此，每一个斑点的初始和后续的图像集，必须准确对应，否则随机相位差异将出现，并在局部相位的评估过程中产生大量噪声。仅仅是一个或两个像素从原来的斑点移动到测量的位置的错误记录，将造成去相关的图像集和表面位移测量完全丢失。因此，ESP设备必须在严格建立和精心控制的条件下使用。这一规定严重地限制ESPI测量的实际应用，使现场应用非常具有挑战性。 当散斑图像发生移位破坏但是没有毁坏可用的相位数据时，就需要去相关来解决。当测量表面移动时，与其表面上散斑图案相联系的围观粗糙度会发生相类似的移动。因此，如果散斑数学化的返回到其原始位置，它可以重新与原来的散斑图像相关联。这个概念是Reu和Hansche建立的，其论文被收录在《数字图像相关（DIC）》中，此概念是用来确定连续测量中散斑图案的运动，然后将测得的图像数学地转换返回到其原始的像素记录处。此过程能够使在没有刚性固定时，有用的ESPI测量能在野外条件下进行。它也允许一些组件被暂时移到其他地方做一些处理和在没有极端精度情况下更换。本文探讨了散斑相关技术，并显示出它如何成功地检索多达60个像素的有用的ESPI图像位移测量。 建议的ESPI像素相关的方法： 图1展示了本研究中使用的装置。分束器把从相干光源的发出的光分成两束，参考光束和照明束。这些光束在反射镜反射，随后结合在样本表面上，以建立如（图2）所示的散斑图样。 图1 ESPI系统和钻孔设备 图2 典型ESPI散斑 在典型的DIC的应用中，在整个测量区的位移变化都是必需的。这个结果是在从包括所有测量区域的先后选择的图像补丁中发现的。在这里，值得关注的是整个图像的散装运动。因此，有必要只使用几个有代表性的修补程序，最低的以只有三个评价图像的参数：x、y的坐标轴和图像旋转。在这里，从18广泛分布的修补程序中得到的结果是用来提供数据平均的。 ESPI去相关： （图1）所示的ESPI设备最初是为了钻孔法测量残余应力建立的。此功能十分方便这项研究，因为它提供了一种产生独特的ESPI条纹和评价使用DIC图像位移有效性的手段，。第一组实验中，使用的铝样品在y方向上具有大的残余应力。表面轻轻喷磨砂白色油漆以得到非镜面的反射面。一组初始相位步进的图像组被测量，以提供一个参考相位图。然后，试样切成一个2.4毫米直径的孔，引起局部的表面变形。另外一个相位步进的图像组进行测定，图3（a??）是通过减去基准相位图得到的鲜明的条纹图案。这个图像的对比度是典型的ESPI测量，具有清晰的条纹和稍微嘈杂的背景。在做完所需的测量图3（a??）后，试样被使用3-轴工作台移位到右侧（正