1. 您所在位置：
  2. 网站首页
  3. 文档分类
  4. 计算机
  5. 计算机应用/办公自动化

SOI RESURF器件高压互连线效应的二维解析模型.pdfVIP

  • 10
  • 0
  • 约1.62万字
  • 约 6页
  • 2017-09-08 发布于北京
  • 举报

SOI RESURF器件高压互连线效应的二维解析模型.pdf

    维普资讯 第28卷 第3期 南 京 邮 电 大 学 学 报 ( 自 然 科 学 版 ) V01．28 No．3 2008年 6月 JournalofNanjingUniversityofPostsandTelecommunications(NaturalScience) Jun．20o8 文章编号：1673-5439(2008)03-0022-05 SOIRESURF器件高压互连线效应的二维解析模型 郭宇锋 ，王志功 ／1．东南大学射频与光电集成电路研究所，江苏 南京 2．南京邮电大学 光电工程学院，江苏南京 210003 摘 要：高压互连线效应是影响集成功率器件性能的重要 因素之一。首先提 出一个高压互连线效应对 SOI横向高压器件的漂

    您可能关注的文档

    最近下载

    文档评论（0）

    1亿VIP精品文档

    更多 >

    相关文档

    更多 >