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(7)印刷偏移及图片示例 A级: 位移偏差≤0.75㎜ 角度偏差≤0.5° 新的标准:位移偏差≤0.5mm 角度偏差≤0.3o B级: 位移偏差≤1.0㎜ 角度偏差≤0.5° 新的标准:0.5mm<位移偏差≤1.0mm 角度偏差≤0.3o C级: 位移偏差>1.0㎜ 角度偏差>0.5° 新的标准: 位移偏差1.0mm和(或) 角度偏差0.3o 缺陷片: 电极图形超出C级降级片的范围(即A级、B级、C级均不允许电极图形超出太阳电池边缘,C级背电场除外) 报废片: 无 (8)TTV(即单片电池片最厚与最薄的误差)及图片示例 A级: TTV的变化<电池片标称厚度的15% B级:及图片示例 TTV的变化<电池片标称厚度的25% C级: TTV的变化≥电池片标称厚度的25% 缺陷/报废片: 无 注:电池片标称厚度以硅片的标称厚度值为准(5点测量法) 新的标准:与旧的标准相同 (9)铝珠、铝苞(不论其位置,一律按≤40um不做铝苞片 )及图片示例 A级: 铝苞不论其位置,铝苞高度在40um~0.15㎜范围内,数量不限. 新的标准:铝苞不论其位置,铝苞高度为≤75um,数量不限 B级: 铝苞不论其位置,铝苞高度在0.15 ㎜ ~0.25㎜范围内,数量不限. 新的标准:铝苞不论其位置,铝苞高度为75~150um,数量不限 C级: 无 缺陷片: 超过B级铝苞范围电池片的要求 报废片: 无 注:以上铝苞状况均应为非尖锐形,如为尖锐形则应交由制造人员进行返工(铝珠同尖锐形铝苞的处理),返工后的铝苞片需依据以上规则重新判定. 铝苞 铝珠 主栅线: A级:主栅线允许有轻微断线、缺失、扭曲、突出,断线和缺失面积不超过主栅线面积的5%, 扭曲突出不超过正常位置的0.2㎜,不允许有变色现象(烧焦、发黄). 新的标准:主栅粗细均匀,不允许有断线、缺失、扭曲以及突出. B级:断线和缺失面积不超过主栅线面积的10%,扭曲突出不超过正常位置的0.2㎜,不允许有变色现象(烧焦、发黄). 新的标准:主栅线粗细均匀,允许有轻微断线、缺失面积不超过主栅线总面积的5%,扭曲以及突出不超出正常位置的0.2mm;不允许有变色现象(烧焦、发黄等). C级:断线和缺失面积不超过主栅线面积的20%,扭曲突出不超过正常位置的0.5㎜,不允许有变色现象 新的标准:主栅线:断线、缺失面积不超过主栅线总面积的20%,扭曲、突出不超出正常位置的0.5mm. (10)印刷图形及图片示例 A级:副栅线允许粗细不均匀,存在宽度大于0.13㎜,小于0.18㎜的副栅线,断栅线≤6条,断线距离≤2㎜,允许有轻微虚印、缺印,面积小于电极总面积的5%. 新的标准:副栅线清晰,允许在两条主栅线间存在断线,断开数量≤3条,断开距离≤0.5mm;不允许有任何虚印、粗点;不允许有变色现象. B级:允许粗细不均匀,存在宽度≤0.25㎜的副栅线,断栅线≤10条,断线距离≤2㎜,允许有轻微虚印,其面积小于电极总面积的10%. 新的标准:允许在两条主栅线间存在断线,其0.5mm<断开距离≤1mm的副栅线,3条<断开数量≤6条,允许有轻微虚印,面积小于副栅线总面积的5%;不允许有变色现象. C级:允许粗细不均匀,存在宽度≤0.3㎜的副栅线,断栅线≤10条,断线距离≤2㎜,允许有轻微虚印,其面积小于电极总面积的30%. 新的标准:副栅线1mm<断开距离≤2mm,断栅线数量不限,轻微虚印面积小于电极总面积的30%. 副栅线: A级:背电极允许有轻微断线、缺失、扭曲、突出,断线和缺失面积不超过背电极面积的5%, 扭曲突出不超过正常位置的0.5㎜, 变色面积不超过背电极总面积的5%. 新的标准:背电极图形清晰,粗细均匀,不允许有断线、缺失、扭曲以及突出;不允许有变色现象. B级:背电极断线和缺失面积不超过背电极面积的10%, 扭曲突出不超过正常位置的1.0㎜, 变色面积不超过背电极总面积的10%. 新的标准:背电极断线、缺失面积不超过背电极总面积的5%,扭曲、突出不超出正常位置的0.5mm;变色面积不超过背电极总面积的5%. C级:背电极断线和缺失面积不超过背电极面积的30%, 扭曲突出不超过正常位置的1.0㎜, 变色面积不超过背电极总面积的20%. 新的标准:断线、缺失面积不超过背电极总面积的30%,扭曲、突出不超出正常位置的1.0mm;变色面积不超过背电极总面积的20%. 背电极: A级:背电场完整,厚薄不均,允许有缺失,缺失面积不超过背电场总
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