快速、高效的移动测试的关键事项.pdfVIP

  1. 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
  2. 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载
  3. 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
  4. 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
  5. 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们
  6. 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
  7. 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
WHITEPAPER 加速大批量生产的移动测试 快速、高效的移动测试的关键事项 © 2012 LitePoint, A Teradyne Company. All rights reserved. 加速大批量生产的移动测试 快速、高效的移动测试的关键事项 ® IQxstream 是一台制造导向的物理层通信系统测试器, 相较于更为熟悉的实验室测试环境,在讨论产品测试的 时候,这套测试器从根本上体现了新的价值主张。为充 分利用其能力,有必要了解,它是如何不同于实验室测 WCDMA 试仪器和为什么产品测试与实验室测试有较大差异这一 GSM 情况。 LTE 1xEV-DO 本技术说明将介绍实验室的测试环境和生产测试之间的 差异。它还将描述IQxstream物理层测试仪为生产车 间带来的独特优势。 TD-SCDMA 实施生产测试解决方案时,总是会有测试覆盖率和生产 能力之间的冲突。生产车间经理希望在他能力范 围内,每小时能够测量的设备尽可能多,质量控 制经理要确保所有的缺陷能够被检测到,而首席 财务官不仅两者都要支持,而且要求最小的资本 预算。 HSPA+ CDMA2000 设计测试系统时必须考虑的下列因素: • 测试类型 - 物理层与信号 • 测试速度 - 支持足够多的被测设备(DUT),测量速度,配置速度 • 与制造业相关的DUT的失败机制 • 测试类型和所需的测试数量 在清单的最上方是被测的类型。对产品测试来说这是一个非常熟悉的方式,设计人员需要用到哪些测试项目,然后大量复制于生产 测试。相比最佳解决方案,无论从成本和生产能力的角度来看,这种方式都过于繁琐。 实验室测试仪是彻底为手机,平板电脑或笔记本电脑模块设计和系统集成的测试过程设计。在这个任务中,他们被用于执行物理层, 信令和系统测试。除了基本的设计和故障排除,他们的测量结果可用于一致性,调试控制和回归测试。 在实验室环境中,实验室测试仪可能被集成到一个包括信道模拟器和基础设施的模拟器的复杂环境。设计/系统工程师可能会置于手 动控制操作,或可能被用来执行复杂的测试脚本,在物理层测试环境下,通过信令性能复杂的干扰、衰落和切换场景测试,探索每 一个标准的细微差别。 在这种情况下,易用性,灵活性和顶级的按钮测试能力,是实验室测试优先考虑的能力。测试速度快,仪器成本和易于集成到生产 环境的优势远强于传统的事项清单测试方式。 在一定程度上,实验室测试仪是一种多工具的测试。有趣的是,当你专注于执行某一的 任务时,实验室测试仪可以掏空你的口袋,并能打动你的朋友,但他们的成本比专用工 具多很多,真的不是最方便的选择。 Accelerating Mobile Testing for High Volume Production 2 生产测试 完全不同于实验室测试。在生产测试中的重点是要准确地判断出移动设备是否工作于最低绝对值。在强调生产线质量的今 天,过多或不必要的测试用来发现可能存在的少数缺陷是一笔不合理的开支。 在生产中的基本设定毫无疑问是那些满足客户所有需求并可正确装配的设计,这些设计被始终如一的使用。如果没有这一保证,以 现在设备的复杂性,只是简单的用巨大测试规模来验证所有的可能性,很可能会脱离设计人员的初衷。生产车间没有地方来验证数 百万行代码的固件,也没有硬件条件关联那些数百万门的DSP/ASIC设计。 生产测试的重点是发现制造缺陷和设计中模拟元件相关的具有代表性的变化。是焊点损坏?是丢掉一个去耦电容吗?还是功率放大 器范围是否够用?某一单元的数字信号功能被锁定在固件和ASIC处理器设计中。这一数字信号驱

文档评论(0)

docindoc + 关注
实名认证
文档贡献者

该用户很懒,什么也没介绍

1亿VIP精品文档

相关文档