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- 2017-09-04 发布于重庆
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高纯钯中痕量杂质的电感耦合等离子体质谱测定方法研究
刘湘生 张安定 潘元海 刘玉龙
(北京有色金属研究总院 北京 100088)
摘 要 建立了高纯钯中16种痕量杂质的电感耦合等离子体质谱测定方法。考察了基体Pd 的谱干扰和基体效应,采用
Sc 、Cs 双内标补偿基体对待测信号的抑制。方法检出限为0.002 μg/L~0.04 μg/L ,加标回收率为86 %~ 114 % ,分析精密
度为0.6 %~3.9 % 。方法简便、快速、灵敏、准确。
关键词 电感耦合等离子体质谱法;高纯钯;痕量杂质;内标
中图分类号 O657
Study on the Determination of Trace Impurities in High Purity Palladium by Inductively
Couple Plasma-Mass Spectrometry
Liu Xiangsheng, Zhang Anding, Pan Yuanhai, Liu Yulong
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