结合云纹干涉术与钻孔法之双轴平面应力状态残留应力分析.pdfVIP

中國機 械工程學會第 二十四屆 全國學術研討會論 文集 中原 大學 桃園、中壢 中華民國九十 六年十一月二十三日、二十四日 論文編號： C07-0026 結合雲紋干涉術 與鑽孔法之雙軸平面應 力狀態殘留應 力分析 1 2 2 敖仲寧 、葉炎娟 、陳明傑 1 2 中正大學機械學系教授 中正大學機械學系研究生 摘要 上 。有學者提 出以雲紋干涉法(Moir Interferometry) 現階段本實驗室利用所設計的雙軸向負荷 夾具 量測鑽孔法所釋放的 殘留應力 [6~ 14] 。因此提高鑽孔 進行雙軸向實驗 ，將夾具轉 45 °以配合 Four Beam 光 法精度的實驗技術就 此產生。 路 系統，但夾具之四隻支撐桿擋住 光線 因 此旋轉光 鑽孔法與 雲紋干涉術兩者技術的發展 應用於 柵黏貼角度。在薄板的 穿孔試驗 於試片 正 央位置 量測 殘留應力上已經有完整的量測準則 ；一方面在 黏貼三瓣薔薇型應變規 ，但從試片另 一面(黏貼光柵 ) 構與原理部 分，已有學者 探討與 比較 ，改善原有的 無法看到應變規可鑽範圍 所 以鑽孔位置變為 一大難 方式；另一方面也能 將此技術活用 於一些實 務工件上 題，因此利用放電加 工鑽孔及 針找出鑽孔位置。 量測。 對於單軸向負荷實驗已有許多 完整文獻探討 雙軸向負荷機構的設計目的是用 來給定試片 一 [15] ，但雙軸向負荷實驗 於文獻中大 多是使用 FEM模 已知的 應力值 然後以鑽孔方式將此應力釋放 再經 擬雙軸向負荷下產生雲紋圖 形[16] ，因FEM模擬無尺 由兩方面 來量測此應力值 一方面是由 雲紋干涉得到 寸與外型限制 所 以利用已知 平面應力反推雲紋形 因 應力釋放的位移改變量 ，經由應力-位移的關係式 狀 而實驗 方面因存在一定的困難度 在於如何施 於 求出此釋放的應力值；另 一方面由應變規求得應變 試片雙軸 平面正向應力 可是實際上對 於挾持的狀況 量 ，再經由應力-應變的關係 式同樣的 求出釋放的應 而言 不免會 產生剪應力 因此 本實驗則 探討雙軸向 力值 ；最後將兩種 方式所 求得的應力值 分析比較 ，再 實驗 ，於實際 之實驗 構為重要的研究課題。 與已知的 應力值比較 計算 其誤 值。 2. 理論背景 關 鍵字 ：殘留應 力、穿孔鑽孔法、放電加 工 、雲紋 2.1 結合雲紋干涉與鑽孔法條紋與- 應 力關係 式推導 干涉術。 Fig 1.(a)為一無限 平板受 到平面應力拉伸 如果 1. 前言 經過 穿孔後 P點會釋放應變(如fig 1.(b)) 根據G. 在 分析殘留應力時 ，以傳統鑽孔法理論 [1~5]作為 Kirsch在1898年所導出的 薄板 穿孔(through hole)受 實驗分 析的理論 基礎利用鑽 孔的方式釋放孔洞周圍