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第 25 卷 第 2 期 . 25 . 2
质 谱 学 报 V o l N o
2004 年 5 月 Jou rn a l o f Ch in e se M a ss Sp ect rom et ry Society M ay 2004
二次离子质谱(SIM S) 分析技术及应用进展
1 2 1 2
周 强 , 李金英 , 梁汉东 , 伍昌平
( ( )
1. 煤炭资源教育部重点实验室 中国矿业大学 , 北京 100083;
2. 中国原子能科学研究院, 北京 1024 13)
摘要: 二次离子质谱(S IM S) 比其他表面微区分析方法更灵敏。由于
应用了中性原子、液态金属离子、多原子离子和激光一次束, 后电离
技术, 离子反射型飞行时间质量分析器, 离子延迟探测技术和计算
机图像处理技术等, 使得新型的 S IM S 的一次束能量提高到M eV ,
束斑至亚 m , 质量分辨率达到 15 000, 横向和纵向分辨率小于 0. 5
和 5 , 探测限为 , 能给出二维和三维图像信息。 能
m nm ng g S IM S
用于矿物、核物质、陨石和宇宙物质的半定量元素含量和同位素丰
度测定, 能鉴定出高挥发性、热不稳定性的生物大分子, 能进行横向
和纵向剖析, 能进行单颗粒物、团蔟、聚合物、微 电子晶体、生物芯
[ 作者简介]: 周强, 1993 年毕业于吉林大
片、生物细胞同位素标记和单核苷酸多肽性分型( SN P ) 测定, 能观测
学, 现为中国原子能科学研究院在读硕士
( ) 出含有 2 000 碱基对的脱氧核糖核酸 (DN A ) 的准分子离子峰。以
仪器分析专业 , 就职于中国矿业大学煤
炭资源教育部重点实验室。多年来从事 S IM S 在同位素、颗粒物、大分子、生物等研究领域的应用为重点, 结
、 射线衍射仪等分析仪器的
TO F S IM S X
合实例, 对 S IM S 仪器和技术进展进行了综述。
开发和应用工作, 并承担一定的教学、科研
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