一种容软错误的BIST结构 A Soft-Error-Tolerant BIST Structure.pdf

第21卷第1期 计算机辅助设计与图形学学报 v01．21，No．1 OFCOMPUTER—AIDEDDESIGN8LCOMPUTERGRAPHICS 2009年1月 JOURNAL Jan．。2009 一种容软错误的BIST结构 黄正峰 梁华国 陈 田 詹文法 孙 科 (合肥丁二业大学计算机与信息学院合肥230009) (hanson—hfut@sina．corn) 摘要针对深亚微米工艺下瞬态故障引发的软错误可能成为芯片失效的重要原因，提出一种容软错误的BIST结 构——Fr_CBII。BO．该结构对并发内建逻辑块观察器进行改进，通过对多输入特征寄存器进行功能复用，构建双模 冗余的容错微结构，并且能有效地降低开销；在触发器输出端插入C单元。可有效地针对单事件翻转进行防护，阻塞 瞬态故障引发的软错误．在UMC 开销为4．99％～18．20％． 关键词软错误；并发内建逻辑块观察器；功能复用；C单元 中图法分类号TP391．76 ASoft-Error-TolerantBISTStructure H H ChenTianZhanWenfaSunKe uangZhengfengLianguaguo (School and 23009) ofComputerInformation，HefeiUniversityofTechnology．HPfei AbstractSofterrorcausedtransientfaultscanbecomean issuefor failuresunder by importantchip sub—micron a soft—error．tolerantBIST manufacturingprocess．This structure， deep paperproposes i．e．，FT—CBILB0．AsanevolutionofCBILBO，FT—CBILBOreusesMISRtoconstructDMRfault— tolerantschemetoreducetheoverhead．FT—CBILBOcanblocksofterror codewordstate byinserting element SEU—induced under totolerant softerror．The results UMC preserving experimental 0．18／zm showthatareaoverheadofFT—CBILBOfrom 28．37％to33．29％，and process ranges performance overheadfrom4．99％to18．20％． ranges wordssoft word error；CBILBO；functionreuse；codestate element Key preserving 随着CMOS工艺尺寸进人深亚微米，由于芯片错误会对微处理器芯片造成严重的后果[4]．因此，容 的工作电压快速降低、工作频率急剧升