线型点阵推扫式激光标志投射装置的设计.pdfVIP

20094々嘟月I％仪∞综0学术年七·Ⅻ北#HRlIJ 线型点阵推扫式激光标志投射装置的设计 蒋理必F宜健高宝华范孝忠 f二4】∞^≠搠t学院wH 摘要牟i舟镕r种摊}IA撒光标占投射鞋置的＆方；、*健¨技术旧蛙＆使月方}圭。*装置投*∞№№点 睥标占克mr*％的人f坏占点的缺点，亮度Ⅱ调节．为*算0LM觉铡t*采方便．特剐适Ⅸm血莆建、高m表 面的计算机*世铡城． 美键词人型“m镕件 ”算目t#世■盛；精№^昨：岛mⅢ■t 1引言 引算机视觉测蠡}技术近年米发展迅速，特别是在I业检测领域麻川广泛，与其他测亩}手段相比， 其优点在丁非接触II昔、采掘信息弈描高、测晕精度高、建度快．特州适用丁需捌母^批姑点位的 表面。美国GSI公司的V-stars测城系统采埘单相机多视角或烈相机获取瞰缘配台圆形编码标．占进” 测城．可以达到微米级的相对测母精度，在精密安装、检测领域应用广泛。… 当前计葬机视觉精密测耸设嚣太多配台粘贴式反光标占束实现，如图l所示：V-stars测埘系统 妊配有光学投影系统投射点阵米府对复杂表面的测揖问题如圈2所示，但价格昂贵，光源为自光。 黟 幽I粘贴存醯■H标嵌咖的圈点厦￡标志 酗2授蚶A目簌X线丧面的白光点阵 丈型高温鼹仲生产过程中需要高精度在位尺寸檎测，锻造生产一股都是在800C一1250(2之间进 行．使用计算机视觉进行m接触拎测是种理想的办法”1．但是由丁高温锻什温度高，币可能在锻 什表面琵^I。测最标志．而且由下亮度高，特通白光点阵投射装雀无浊在锻制表面彤成可见的点阵， 而基r立体斟像匹配的近影摄影测埘方法叉由丁高温锻忭袭面没有纹理而无法使刚．纂于以上蟓因， 我们在商温锻忭热态在位检测中设计了基丁绿激光的点阵挫射装备，以配合计算机视觉测鼙技术完 成高温锻作的尺寸测艟。 2装置设计 由丁高温热态锻件甲红热状卷．白光点阵投点器投射的自光标忠完全被淹没在r红热锻仆的发 光光谱中，起不到投射标，占的怍Hj，隅此无法在高温锻忭的热态测带中应刚。而激光具有单色性好、 方向性好等优点，作为光源得到了越米蟮多的席Ⅲ，尤其是红色、绿色激光在测量中应朋蛙多．但 考虑到红热锻什的发光光谱．绿色激光光源往高温金届袁面麻为较为理想的光源选抒，试验表明绿 激光照射到高温锻件表面光点清晰．圆度较好。 由于采用单光巍分光求扶得激光点阵的方法需要高功率激光嚣，而且由于激光干涉性能极住， 2009年全国测绘仪器综合学术年会·湖北省宜昌市 消除干涉干扰难度大，本方案采用线状排列的单个激光器阵列，投射一条近直线的激光点阵，使用 时由步进电机控制转动投射方向，分时覆盖整个锻件表面；测量时通过序列图像组合获得锻件表面 激光点的覆盖图像，从而可以量测锻件表面。 ‘ 总体设计方案框图如图3所示： 装置由4部分组成：半导体绿色激光 器点阵、机械部分、电路控制部分，绿光 激光器的功率选为l～lOmw，中心波长 532nm。 2．1绿激光器的选取设计 O 为计算机视觉测量系统的后续处理 l安装、固定 提供方便和提高测量精度，即光斑能够尽 l 散热 量的成圆形，另外要满足携带方便、又要 I 圈臼圈 满足投射的线阵点具有足够的密度和宽 图3方案框图 度，则激光器的口径要尽量小，因此用圆 形透镜来增加光斑的圆度；加装调焦控制，以应对距离变化对光斑聚焦程度的影响，实现有效聚焦， 控制光斑的大小和圆度。圆光斑的中心表示点位位置，在图像处理时可以通过圆拟合的方式获得中 心点位，从而达到亚像素级的量测精度，这计算机视觉系统的高精度测量提供支撑条件。 2．2激光器的排布方式 度和宽度，单排的线性排列是比较困难的，而且长度太长，如 l激光器卜—’Z…．Z…．．Z…7 度和耄娄，誓纂磊冀譬薰翥釜翟曩翟鑫吾望需釜饕塞寞譬，嘉臣星竺专≠专叁：：：二：薹：：=：参：：：：：乡 直径12mm的