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第31 卷 第 1 期 电 子 科 技 大 学 学 报 Vol.31 No.1 2002 年2 月 Journal of UEST of China Feb.2002 一种基于电压比较器衬底噪声的测试方法* ** 师奕兵 陈光礻禹 王厚军 ( 电子科技大学自动化工程学院 成都 610054) Jiann S. Yuan (美国中佛罗里达大学工程与计算机科学学院 奥兰多 FL32816) 摘要 论述了一种测试混合信号集成电路衬底噪声波形的方法 采用电压比较器 利用衬底电压对比 较器状态的影响 对噪声作出统计测试 根据测试结果 重建噪声波形 设计了一测试系统的原理框图 推 导出了用于衬底噪声波形重建的表征取样噪声电压的平均电压和表征测试误差的均方根值的计算公式 建立 了模拟实验电路 给出了SPICE模拟实验结果 关 键 词 混合信号集成电路; 衬底噪声; 电压比较器; 测试 中图分类号 TN453; TN710.9 在许多多媒体应用中 单片系统(SOC — System On Chip)集成是实现低成本 高性能系统的一 个重要途径 除能够实现数字电路的大规模集成外 现时的SOC方案亦能实现模拟电路和混合信号 电路的单片集成 实际应用中的混合信号集成电路是将高速模拟电路和大规模数字电路制作于同一硅衬底上 如 一个用于便携通信系统的RF 电路芯片 在这种集成电路中 数字电路所产生的噪声通过衬底形成寄 生电流传输到集成在同一芯片上的模拟电路 从而在模拟电路中引入不容许的噪声信号 衬底中的 寄生电流称为衬底噪声 衬底噪声将严重降低混合信号集成电路的性能 因此 为了研究衬底噪声 以及控制衬底噪声在混合信号集成电路的实现中的影响 重要的一环是对衬底噪声进行测试 文献[1~4]采用了单个晶体管放大器测试混合信号集成电路中的切换噪声 文献[3]从实验角度 描述了几种降低衬底噪声的方法 并在测试结果的基础上对降噪效果进行了讨论 但其所测噪声值 包含了实验方案中晶体管放大器外部寄生阻抗的影响 为了剔除这种寄生作用 评价数字噪声对同 一芯片上模拟电路的影响 本文论述一种基于电压比较器的测试方法 同时阐述测试系统的设计以 及基于测试的衬底噪声波形的重建等问题 1 测试系统设计 图1所示为测试方法的原理框图 作为噪声检测器的集成电路片上比较器对于数字电路的实际 切换噪声能快速反应 其输出测试逻辑的 高 或 低 取决于输入电压V 相对于参考电压V 的 in ref 电平 如果比较器几近理想且无耦合噪声 则输出 高 出现的概率将由0 100 急剧变化或为 50 (当V = V 时) 若噪声加至比较器 则概率将改变 如图2所示 噪声产生一亚稳定区 在亚 in ref 稳定区 高 电平与 低 电平相混合 因此 通过观测比较器输出的事件并计算亚稳定性的概率 就能对噪声作出统计测试 2001年10月8 日收稿 * 国家留学基金管理委员会基金资助项目 编号 ** 男 36岁 博士生 副教授 36 电 子 科 技 大 学 学 报 第31 卷 V 比较器输出 ref - V in +