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实验：电光调制器特性的测试实验报告 一、 实验目的 熟悉晶体的电光效应和电光调制器的基本工作原理 掌握电光调制器主要性能的测试方法，了解电光调制器的应用 二、 实验原理 （一） 电光效应 晶体的折射率因外加场而发生变化的现象为电光效应。折射率与外电场成比例改变 的称为线性电光效应或普克尔效应，与外加场的二次方成比例改变的，称为二次电光效 应或克尔效应。外电场可以是直流场或交变场，频率可高达超高频或微波的范围。线性 电光效应只存在于无对称中心的晶体中，二次电光效应则没有这个限制。 双折射。一束入射光射入各向异性的晶体中分成两束光，o 光 （寻常光）和 e 光 （异 常光）都是偏振光，振动方向互相垂直。o 光的折射率不随方向而变，e 光的折射率则 随方向而变。当光沿晶体的某一轴向传播时，不发生折射现象，则这个方向的轴向称为 光轴。 （二）折射率椭球 折射率椭球（习惯称光率体）是描述晶体光学性质常用的示性面，在各向异性介质 的主轴坐标系中，光率体用下式描述： 2 2 2 X X X 1 2 3 + + 1 2 2 2 n1 n2 n3 式中 n 、n 、n 为该光率体在主轴方向上的折射率，称为主折射率 1 2 3 1、3 个四次轴，只有一个折射率，无双折射现象。 2、只有一个高次轴。nen0 时，为正光性单轴晶；nen0 时，为负光性单晶轴。 3、没有高次轴，有两个光轴，为双轴晶。 线性电光系数。线偏振光进入晶体后，分解为震动方向互相垂直的两个光波。由于他们 在晶体中传播速度不同，他们之间的光程差将随光在晶体中传播距离的增加而增加。如果两 个光波的光线方向一致，他们将合成线偏振光、圆偏振光或椭圆偏振光。但要观察干涉现象， 必须用偏光镜吧合成后的偏振光波引到同一个平面内，使它完全符合干涉条件。 实验中要使用两个偏光镜，一个偏光镜用于生产线偏振光，称起偏镜，另一个偏光镜称 检偏镜，使两个线偏振光在同一平面内震动，引起干涉。 线性电光效应公式。电场作用于晶体引起的折射率的变化关系为： 1 Δ( ) γE 2 γ为线性电光系数 n 电光效应：纵向电光效应、横向电光效应 半波电压。在电光效应中，使两个光波产生半个波长的光程差（即产生相位差为 π）所 需要的电压为半波电压。L 为晶体光轴方向的长度，D 为外电场方向晶体的厚度。 λ D Vπ n3 • L 2 0γ22 起偏镜和检偏镜偏振方向互相垂直的情况下，输出光强与电压的关系如下式： I 2 ϕ sin ( ) I 2