CRC校验算法在I／O扩展上的应用.pdfVIP

2009年第12期 ·控制与检测 · 文章编号 ：1001—2265(2009)12—0069—04 CRC校验算法在 I／0扩展上的应用 ，l： 林凯宏 ，游林儒 ，王 立松 (1．华南理工大学 自动化科学与工程学院，广州 510640；2．吉阳 自动化电子研发部 ，深圳 518055) 摘要 ：为 了克服锂 电池卷绕机控制器 I／0点 占用资源 多、扩展性不强等特 点，采 用 CPLD处理 I／0数据， 并通过 串行协议与主控 制 器 FPGA交换 I／0信 息的方法 实现 I／0扩展 。研 究如何 将循 环 冗余 校验 (CRC)用于保证 串行 I／0数据传输的可靠性 ，并用 Verilog实现 了CRC校验算法 ，给 出了仿真结果。实 际应用结果表明，该方法即实现 了对大量 I／0的处理 ，具有 I／O扩展 时的高度灵活性 ，又保证 了数据传 输时的高可靠性 ，取得 了理想的应用效果。 关键词 ：CRC；循环 冗余校验 ；I／0扩展 ；卷绕机 中图分类号 ：TP273