利用高光谱图像技术检测梨表面碰压伤的试验研究.pdfVIP

技术 ·食品工程 ( 。 利用高光谱图像技术检测梨表面碰压伤的试验研究 薛 龙 黎 静 刘木华 ，z (1．华东交通大学机电工程学 院 2．江西农业大学T学院) 摘【要】以梨为研究对象，初步探讨了应用高光谱图像技术检测梨表面碰压伤的方法 采集 梨在 400~1000nm 范围的高光谱 图像 ，应用主成分分析方法 (PCA)获得主成分 图像 ，根据第三 主成分 图像 (PC一3)中各波长的权重 ，选 出特征波长 ．分别是 572nm、696nm和 945nm 经过 适 当的图像处理方法时梨表面的碰 压伤进行检 测。检测结果表明，高光谱技术对检测梨表面碰 压伤效果非常 明显 【关键词】高光谱图像；无损检测；碰压伤 中图分类号：TS207．7 文献标识码：A 文章编号 ：1673—7199(2009)04—0136—04 一 般水果在采摘和运输 的过程 中。容易因碰撞挤 统计分析方法来寻求能准确辨别梨表面损伤的最佳波 压造成水果表面碰压伤 。其损伤部位表面没有破损 ， 长 ，为实现水果 的无损快速在线检测提供依据。 无汁液外溢现象．有轻微 凹陷，颜色与正常表面差别 1 试验材料与方法 较小 ．肉眼较难观察 出来 ，但用手触摸可以感觉到碰 压伤部位变软 ．这是 因为 内部组织发生 了变化。水果 1．1 试验材料 碰伤后如不及时筛选 出来 ，随着时间的推移 ，受损伤 试验 以市场购买 的梨作为研究对象 。共有 l5个梨 部位会褐变 ．直至整个水果腐烂并影响到其他果实 。 样本 ，每个样本均有 3处碰压伤 ．损伤全部 由人工模 计算机视觉技术 已经广泛的应用于水果 的在线检测 中， 拟形成 ，在室温下放置 3h后拍摄图像 。 其中水果表面损伤 、缺陷和污染物的检测是一项重要 1．2 试验装置 内容。但传统视觉技术所获取 的图像仅仅是水果表面 本试验的高光谱 图像数据是基于光谱仪 的高光谱 的二维图像 ．缺少一系列波长下的光谱信息，不能反 成像系统采集得到的。图 1为高光谱 图像采集系统示 映出水果内部组织变化 ．因此就给碰压伤检测带来 了 意 图 ，由 l台 CMOS照相机 (Photonfocus，瑞士)，1 一 定的困难 。 高光谱 图像技术结合 了光谱分析和 图像处理的技 术优势 。可对研 究对象 的各种 内外部品质特征进行检 测分析 。在 国内。赵杰文等人利用高光谱 图像技术检 测苹果轻微损伤．准确率为 88．57％．洪添胜等人利用 高光谱 图像技术提取雪花梨 中糖和水的光谱响应和形 态特征参数 ．建立 了雪花梨含糖量和含水率预测模型。 在 国外 ，有部分学者分别应用高光谱 图像技术对不 同 成熟度 的草莓表面损伤 ，苹果的表面缺陷，以及检测 芒果 的成熟度进行 了试验研究。本文采用高光谱 图像 技术来检测梨表面损伤 ．并通过数字图像处理和多元 图 1 高光谱图像采集系统示意图 食品工程 ·技术 C 台行扫描光谱摄制仪 (ImSpectorV10E)，2个 500W 的 卤钨灯光源和一套输送装置等部件组成 。本次试验光 600 谱范围从 400～l00Onot，光谱分辨率为 3nm。 {血 摇 400 1．3 数据采集与预处理 成像光谱仪是将影像传感器的空 问表述同光谱仪 200 的分析能力结合在一起 。