针对SOC测试数据压缩的编码方法研究.pdf

针对SOC测试数据压缩的编码方法研究 摘 要 随着集成电路的设计趋势正在快速的朝向片上系统SoC 芯核集成在一个芯片上，这样增加了设计产量且缩短了产品投放市场的时 间，但是同时给测试也带来了挑战。测试数据的不断增加、测试时间的增 长使得测试的成本越来越大，为了缓解这些问题，必须对测试数据进行压 缩。本文从几种经典的测试数据压缩方法入手，对各种方法的优缺点进行 了分析，总结出了每种方法各自的适用范围，并在此基础上提出了部分改 进。本文主要工作如下： 1．总结了当前各种编码压缩技术，对每种方法的特点做出了总结和 分析，着重分析了交替与连续长度码和折叠计数器这两种方法，总结其适 用范围，找出其不足之处，并在后边的工作中对其作改进 2．对测试集差分向量中的连续的0进行编码是一种很经典的方法。 但是不能很好的适应差分向星中连续的l和10交替的情况，交替与连续 长度码可以很好的解决这个问题。本文对测试集进行预处理，使得预处理 后的测试集能更好的用交替与连续长度码进行编码，实验结果表明，本方 法可以有效的实现对测试数据的压缩。 3．针对传统的折叠计数器技术需要重新播种的问题，本文给出了一 种方法，它不需要进行重新播种，当一个折叠集生成完毕之后，可以通过 在若干个中间折叠集的跳转跳转到下一个折叠集。文中将用数学方法证明 这样的中间折叠集是存在的，并且经过的折叠集的个数最少。本方法硬件 开销较小，通讯协议简单，但是其压缩效果非常明显。本方法可以利用折 叠计数器的技术处理孤立点较多的问题，扩展了传统折叠计数器的通用 ·陛。 关键字：测试码压缩，交替与连续长度码，折叠计数器，折叠跳转 Abstract WiththeIC transformtothe designrapidly the and coreintoone cuttheTTM integratepreverifiedpredesigned chip．Thisway alsotakes to test andthe short，but challengetesting．Theincreasingpatterns testtimeleadstothe cost．For this should increasing higher resolvingproblem，we test isbasedonsomeclassictest the patterns．Thispaper patcem compress alsosummarizesthe and of methods，and disadvantages compression advantages we some basedonit．Themainworkofthe method．Andmake every improvement isasbelow： dissertation 1．Summarizedifferent also the of encodingtechnology,andanalysesspecialty onthe and