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论文简述 名称: 散射光干涉粒子粒径的测量 概述 1.对该技术的介绍 2.一些基本的原理和公式 3.应用中的一些问题 对该技术的介绍 基本原理简介 利用线状脉冲激光束照射粒子场,用CCD记录粒子的散射光干涉图像,并从粒子干涉图像中获取粒径信息。 粒子 图样 实验原理综述 激光照射粒子场,来自于粒子反射和折射的散射光,在粒子的聚焦像面上产生两点像,在粒子的离焦像面上产生干涉条纹图。粒子的直径与干涉条纹图的条纹数或条纹频率有关。通过测量条纹数或条纹频率便可以得到粒子的尺寸大小。由于条纹数与照明光束强度无关,因此,本干涉测量法的测量精度较高。 所读文献中提到的测量不透明粒子的情况。(双光束照射) 测量原理公式的推导 收集角,条纹数及相邻干涉条纹间的散射角差值满足: 被测粒子的粒径: d与N成正比,与条纹间距成反比。 图样 应用中的一些问题 1、对特殊场合的粒子检测(如对燃烧时的颗粒的检测),背景噪声(燃烧发光较强)需要相应的光学的方法来来消除(如加遮光器)。 2、实时检测时(如对火灾现场烟雾进行探测,进而可以对火灾实施监控),就对系统的处理时间提出了要求。尤其是后期的图像处理以及粒子散射可测范围的定位问题(对应理论模拟部分)。 接受区域的问题 需要理论推导 Mie氏散射 Mie散射理论是对处于均匀介质中的各向均匀同性的单个介质球在单色平行光照射下的麦克斯韦方程边界条件的严格数学解。 它的平行和垂直于散射面的散射光强表达式中包含了振幅函数,它是Bessel函数和Legendre函数组成的无穷级数。(光强大小影响条纹的对比度)在其中有包含了其它的几层嵌套的函数表达式,比较复杂。该理论是本课题进行理论模拟的重要基础。要确定公式当中的参数进行计算。(波长、粒径、折射率) 图像压缩 将柱透镜引入到光学系统中,将大圆形条纹图压缩为线型条纹图,实现了高密度粒子的尺寸测量。相比于传统的干涉粒子成像技术 ,这些压缩技术减少了系统噪声,改善了信噪比,而且能消除来自于反射和多散射的倾斜干涉条纹图和畸变条纹图。同时2D图像数据压缩为1D数据,加速了数据处理速度。 但在实际工业中,由于受惯性和气流力的作用,粒子形状并不是严格球形,这时出现了条纹畸变,图像压缩会使干涉条纹频谱信息丢失,使粒径无法测量。因此,对于非严格球形粒子,采用未经压缩的干涉图像才能有效的得到条纹数或频率。 * * * * 赵晨 光程差: 相邻干涉条纹间的散射角差值: 相位差公式: 和 去绝对值后的符号问题。
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