SiO2表面酸性红外光谱和密度泛函理论的研究.pdfVIP

维普资讯 第 28卷 第 7期 催 化 学 报 2007年 7月 Vo1．28No．7 ChineseJo1A?nalo{Catalysis July2007 文章编号 ：0253—9837(2007)07—0627—08 研究论文 ：627～634 SO 一／SiO2表面酸性的红外光谱和密度泛函理论研究 郭岱石 ， 马紫峰 ， 蒋淇忠 ， 叶伟东 ， 李春波 (1上海交通大学化学工程系 ，上海 200240；2浙江医药股份有限公司新 昌制药厂 ，浙江新 昌312500) 摘要 ：对介孔 SiO2及硫酸根促进 的 siO2样 品进行 了原位吡啶吸附红外光谱测试 ，分别建立了硫酸根促进前后 的SiO2表面原 子簇模型，用密度泛函理论对其吡啶吸附行为进行了计算，分析了SOi一／SiO 表面酸性产生的机理．实验和计算结果表明， SOj一／SiO，表面不存在 Lewis酸中心，原位红外谱图中表征 Lewis酸性的特征峰对应于氢键吸附吡啶的环振动，这种氢键作用 因SiO 表面 的硫酸根促进而得到加强．HOS ；螯合结构为s ／SiO2表面 Br0nsted酸 中心，其酸强度强于表面磺酸基团修饰 的介孔 SiO，材料 SOH—MSU，而弱于 HZSM一5．s 一／SiO2的酸催化活性源于其表面 的Bmnsted酸性 ． 关键词：二氧化硅 ；硫酸根 ；表面酸性 ；吡啶吸附；红外光谱 ；密度泛 函理论 中图分类号 ：0643 文献标识码 ：A FT-IR andDensityFunctionalTheoryStudieson SurfaceAcidityofsoj一／sio2 GUODaishi，MAZifeng ，JIANGQizhong，YEWeidong，LIChunbo (1DepartmentofChemicalEngineering，ShanghaiJiaoTongUniversity，Shanghai200240，China； 2XinchangPharmaceuticalFactory，ZhejiangMedicineCo．Ltd，Xinchang312500，Zhejiang，China) Abstract：SilicaMCM一41withoutandwith sulfuration treatmentwasmeasuredby insitu pyridineadsorption infraredspectroscopy．ClustermodelsofpureSiO2ands ／SiO2werebuiltup，anddensityfunctionaltheory calculationsonpyridineadsorptionwerecarriedouttoanalyzethesurfaceacidityofs ／SiO2．Thecombined resultsofexperimentaland theoretica1studiesshowed thattherewereno Lewisacid siteson thesurfaceof s 一／SiO2．TheIR frequenciesassignabletoLewisaciditycorrespondedtotheenhancedhydrogen—bondedad— sorptionofpyridinebysulfurationtreatment．ThechelatingstructureofHSO4 actsasBr0nstedsitesonthesur— faceofsOj一／SiO2，withanacidstrengthhigherthanthatofsulfonicgroup—functionalizedsilicaSO3H—MSUbut