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陈哲等：纳米BaMg舢loOl，：Eu“蓝色荧光粉的表面包覆研究 10l
陈哲1，严有为2
’
摘 要： 以廉价的MgCl2和NH4F为原料用乳胶法在
纳米Ba^蟾A】lool7：Eu2+(BAM)蓝色荧光粉颗粒表面成
功地包覆了一层均匀致密的MgF2包覆层．利用Ⅺ①、 光粉，并研究表面包覆对BAM形貌和光谱特性的影
响。
XPS、TEM和EDS对纳米BAM包覆颗粒的化学成分
和微观结构进行了表征，并通过真空紫外激发光谱测试
2实验
了其光谱特性．结果表明，MgF2包覆层紧密地附着在
BAM颗粒表面．包覆层对Bj蝴纳米颗粒表面起到了2．1
很好的修饰作用，有效降低了BAM荧光粉的无辐射跃 BAM荧光粉采用溶液燃烧法制备【。7】。然后对合成
迁机率，使BAM的发光性能得到明显改善． 的BAM颗粒采用乳胶法进行表面包覆处理。首先将一
关键词：乳胶法；表面包覆；纳米：BaMg越l0017：Eu“
(B触旧；荧光粉；微观结构；光谱特性
中图分类号：0613；0657．3 文献标识码：A 同时利用电磁搅拌仪对溶液进行搅拌，在溶液蒸发过程
文章编号： 1001．9731(2007)增刊．0101．04中逐渐形成的MgF2均匀的包覆在荧光粉表面并最终形
成包覆膜。然后经过离心分离、洗涤和烘干得到样品。
1 引 言
BaMgmloOl7：Eu“(BAM)因在紫外、真空紫外光
激发下具有优良的发光效率而广泛应用于等离子体显 O．1，0．15，O．2，0．25来制备不同包覆厚度的试样。
2．2样品的表征
示(PlasmaP蛆el，简称PDP)中。但BAM在涂
Display
PROX射线衍射仪测
采用荷兰帕纳科公司X’Pen
屏过程及工作过程中会发生亮度衰减现象而使PDP的
性能受到影响【11。因为在涂屏PDP过程中，经丝网印刷
G2
测定样品的激发光谱和发射光谱：用Te∞ai20透射
后，需600℃高温焙烧，以除去有机溶剂。这样会使作
电子显微镜(ⅡM)观察样品的形貌及颗粒尺寸：用美
为发光中心的少量Eu2+被氧化成Eu3+。而工作过程中则
会发生真空紫外激励的辐照造成衰减和气体放电离子
素成分分析，样品表面因失去电子(光电子)而带正电荷，
溅射造成衰减。因为高能粒子的溅射会造成荧光粉表面
为纠正静电荷对电子结合能测量带来的偏差，以污染碳
缺陷使晶体的表面破坏从而导致发光亮度的降低【2】。所
以，如何解决蓝色荧光粉的热衰减与真空紫外辐照造成
VERTEX
70红外光谱仪对样品表面进行分子结构测定：
的衰减是目前亟待解决的课题【3l。
采用中国科技大学同步辐射国家重点实验室同步辐射
据报道，对荧光粉进行表面修饰一包覆是提高其抗
光源测定样品的真空紫外激发光谱和发射光谱。
衰
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