FAStT700存储性能测试：.docVIP

FAStT存储在AIX环境中的性能优化及测试指南 随着FAStT在IBM pSeries中越来越广泛的使用，如何最大限度的发挥FAStT的性能优势，给客户带来最大的益处，是我们目前经常面临的问题。本文将以FAStT700＋2个EXP700为例介绍FAStT在AIX环境中进行存储性能测试的建议方法, 由于FAStT各个产品的体系结构大同小异，所以本文同样使用于其他FAStT产品的测试以及生产系统的性能优化。 测试配置： 为了充分利用FAStT700 设计的优势，在进行存储性能测试时，我们使用了一下的配置： 将每个EXP700分别连接到FAStT700 的一对mini-hub上（FAStT700使用两对Drive Side mini-hub） 将每个EXP700的14块磁盘格式化成一个RAID5，即形成两个RAID5 在每个RAID5上各建立两个10GB逻辑盘（第一个RAID5上建立DISK1、2，第二个RAID5上建立DISK3、4），segment size一般设为64K，并分别把它们的缺省路径分布在两个控制器上，即：DISK1、3走控制器A，DISK2、4走控制器B 在AIX中识别这4块盘，假设分别为hdisk5(DISK1)、hdisk6(DISK2)、hdisk7(DISK3)、hdisk8(DISK4) 用hdisk5 和hdisk7建立perfvg1， pp size设为