两种典型电子元器件的中子辐照损伤分布研究.pdfVIP

第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会论文集 两种典型电子元器件的，中子辐照损伤分布研究 白小燕林东生 陈伟郭晓强王桂珍杨善潮李瑞宾 刘岩金晓明 (西北核技术研究所陕西西安710024) 摘要本文研究了两种典型的电子元器件g晶体管和三端稳压器在中子辐照下不同中子注量 的敏感参数的分布变化．结果表明，中子辐照下晶体管的直流放大倍数的分布可以用对数正态分布 得到很好的拟合；而三端稳压器的输出电压的分布在辐照前可以用正态分布拟合，辐照前期可以用 威布尔分布拟合，最后四种常见的分布都不能得到很好地拟合。 关键词 中子辐照敏感参数分布威布尔分布对数正态分布 1 引言 在对电子产品的抗中子辐射性能进行评估时一般采用这两种检验方法，一种叫计数型检验，一 种叫计量型检验。计数型检验的优点是比较简单，不需要知道产品敏感参数对应的失效中子注量分 布，但当要求待考核产品的失效率很低时需要的样品数目比较大，例如以90％的置信度要求产品的 通过概率为99％时至少需要231个产品且无一失效‘¨。计量型检验需要中等数目(10到50不等)的 样品，但它的操作过程比较复杂，而且必须在已知产品的某项特征参数分布的前提下进行。军用电 子产品的成品率一般较低，且辐照模拟源可提供的有效辐照空间有限，因此当要求产品的通过概率 较高时采用计量型检验比较合适。 有研究表明失效判据下产品所对应的失效中子注量(总剂量或其他表征辐射环境的量)分布比 某一环境下产品的特征参数分布显得更为重要，但很多情况下由于成本等因素的考虑，辐照试验不 可能做到所有样品都失效为止，常见的试验类型为定注量截尾试验，即试验进行到预定的中子注量 点结束。 目前一般假设固定中子注量点下敏感参数的分布为对数正态分布，当要求产品的合格率很高时 (如99．99％)，一般需要外推求解，这时各种分布带来的差异比较大，因此研究中子辐照下电子产 品的敏感参数的分布是很有必要的。 在中子辐照下，晶体管的直流放大倍数缓慢减少，三端稳压器的输出电压(绝对值)先缓慢变 化后在某一中子注量下开始陡变，这两种变化趋势比较具有代表性，且它们均为双极工艺器件对Y 行试验，详细研究中子辐照下这两类器件的敏感参数分布随中子注量的变化情况。 2中子辐照试验 为获得完整的辐射效应曲线，采用在线实时测量器件的特征参数。考虑到测试系统的容量，晶 第十届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会论文集 体管的样本数目为30，计算集电极电流为20mA时的直流放大倍数：．三端稳压器的样本数目选为64， 输出空载。 选用西安脉冲反应堆进行中子辐照实验【2】，反应堆运行功率选为200I(w，在该功率下中子注量 1010 10”n／cm2结束。 率为1．62Xn／an2．so辐照到中子注量为6．0X 3统计分布检验方法 分布的拟合优度检验有很多种方法，有适用各种分布的皮尔逊z2检验，柯尔莫哥洛夫检验，最 求出相关系数，并用绘图软件，把实验数据与线性回归直线绘制在一起，可以方便地看出是否有偏 离总体的异常样本，以及拟合程度好坏，尤其是采用相关系数可以定量描述拟合程度优劣。当一组 实验数据，通过了几种分布的拟合优度检验时，可以采用相关系数r专1程度进行判断，采用哪一种 分布最好【5】。 4884—2001推荐的两种针对正态分布的无方向 Shapiro．Wilk检验和Epps-Pulley检验是国标GB／T Epps-Pulley检验对样本量的要求是n≥8，因此本文选取Epps-Pulley检验的方法。 Epps．Pulley检验利用样本的特征函数与正态分布的特征函数的差的模的平方产生的一个加权积 量为 Tsp=1+万n+三Bk兰--2j掣=l唧芦乏芋}-压差。exp芦宰’ 如果计算出的检验统计量％的值大于给定的显著水平口和样本量n确定的P分位数，则拒绝 零假设。 表1为国标GB／T 的最后一行。 表1检验统计量％的P分位数 l一口 n