高低温循环加速老化实验对LED器件可靠性的研究.pdfVIP

201 1年全国新光源技术与市场研讨会 论文集 高低温循环加速老化实验对LED器件可靠性的研究 陈宇，黄帆，严华锋，殷录桥，张建华，李志君 上海亚明灯泡厂有限公司，上海大学机电工程与自动化学院 1／1 摘要：本文依据ELAJED-47000和IEC60749．25标准，设计了加速条件为 ．250C／1250C的高低温循环加速老化实验。通过3组1W的LED器件和1熏．gCOB集成 封装LED器件的加速老化，分析了光电热等特性随老化时间的变化情况。加速老 化实验结果表明，不同结构材料封装的LED器件光衰速率不同，蓝光LED器件的 主波长变化不明显，白光LED器件色温略有变化；器件的结温、热阻随老化时间 呈升高趋势；各组LED器件的失效情况相差很大；COB器件的光通量维持率与失 攀情况都优于普通功率型u’D．本实验表明了高低温循环加速老化的实验方法对 评价uD的可靠性有重要的参考意义． 关键字：功率型LED；温度循环；光通量；结温；热阻；可靠性 1引言 与传统的照明光源(白炽灯、荧光灯、高强度放电灯)相比，LED 由于具有节能、高效、寿命长、抗震、体积小、响应速度快等优点， 大功率LED器件得到了越来越广泛的应用，市场潜力逐渐变大。作为 一种新型的照明光源，大功率LED照明产品将成为继传统照明光源之 后的新一代照明光源【1】。然而，在众多的LED照明产品中，产品质量 良莠不齐，其中问题之一是LED器件的可靠性。LED光源与灯具的可 靠性问题阻碍了其进入通用照明的步伐【2】。LED产品的可靠性，是决 定其能否进入通用照明的关键因素之一。研究人员们对LED可靠性做 了大量的研究工作，常见的寿命试验方法有普通条件外推法、温度加 速寿命实验法、电流加速寿命实验法，由于普通条件外推法周期非常 长，一般多采用温度加速寿命实验法和电流加速寿命实验法。 空间电荷层离化受主的分布和光电参数的变化，对老化过程中发光强 度的变化做作了一种解释，认为是有源层中的Mg．H化合物受热分解成 M矿从而使P型层离子浓度增加，从而使非辐射复合增加降低了发光强 201 1年全国新光源技术与市场研讨会 论文集 度。对于功率型器件而言，散热是必须解决的问题，特别是多芯片集 成大功率LED模组和灯具会使热量更加聚集，热量的聚集引起LED芯 片结温迅速上升，导致半导体材料和荧光粉的发光效率下降【4】。刘胜 教授【5】课题组队对湿气扩散和温度对LED可靠性的影响进行了研究。 认为在湿应力和热应力的耦合作用下，造成了LED芯片与荧光粉间、 荧光粉与硅胶间、硅胶与透镜的界面分层，并且硅胶容易产生空洞， 裂纹等缺陷。美国新墨西哥州大学的Barton网用PDS分析了环氧树脂 oC， 的短波辐射退化现象，并用实验发现环氧树脂的褐化温度在150 周文英教授【7】等人观察到了大电流条件下封装材料的碳化现象。L．R． 环氧树脂会随着温度的升高而变成褐色，并且对LED的光学和热学特 性的变化也作了相关的研究。J．Z．Hu[9】对热湿应力对LED器件影响作 了大量的研究，发现湿应力的增大会造成热应力的增大，从而影响器 件材料间的分层。 LED常见的失效机制有：芯片材料失效、电迁移破坏、芯片击穿、 封装材料失效、键合失效、荧光粉失效和基板失效等f10】。其他失效机 理：由于局部温度过高导致金线与电极开路；由于各材料之间热膨胀 系数之间存在差异，温度的变化造成的应力使得金线断裂；芯片键合 老化；倒装芯片中焊球的脱落等【11】。 温度循环实验主要是是测试LED的开关效应或在昼夜环境温度变 化的可靠性，对环境的适应性，利用材料的热膨胀系数的不同对产品 结构造成疲劳效果，进而影响LED的可靠性。为了更好的理解研究LED 采用了冷热温度加速老化实验的方法对功率型LED进行了可靠性的研 究。 2011年全国新光源技术与市场研讨会 论文集 2实验方法 2．1实验样品 表l 4组不同结构与不同材料LED器件 本实验采用共4组不同结构