实验三基本门电路的逻辑功能测试.docVIP

实验三基本门电路的逻辑功能测试 一、实验目的 1 、测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。 2 、熟悉扩展板与主电路板的连接与使用。 3 、了解测试的方法与测试的原理。 二、实验原理 实验中用到的基本门电路的符号为 : 图 3-1 与门 图 3-2 或门 图 3-3 非门 图 3-4 与非门 图 3-5 或非门、 图 3-6 异或门 在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平 , 然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。 三、实验设备与器件 1 、数字逻辑电路实验板。 2 、数字逻辑电路实验板扩展板。 3 、双踪示波器 , 数字万用表。 4 、相应 74LS 系列、 CC4000 系列或 74HC 系列芯片若干。 四、实验内容 1 、测试 TTL 门电路的逻辑功能 : 测试 74LS08( 与门 ) 的逻辑功能。 测试 74LS32( 或门〉的逻辑功能。 测试 74LS04( 非门〉的逻辑功能。 测试 74LSOO( 与非门〉的逻辑功能。 测试 74LS02( 或非门 ) 的逻辑功能。 测试 74LS86 〈异或 f j) 的逻辑功能。 2 、测试 CMOS 门电路的逻辑功能 : g) 测试 CC4081(74HC08)( 与门 ) 的逻辑功能。 h) 测试 CC4071(74HC32)( 或门 )的逻辑功能。 -一一 14 一一一 测试 CC4069(74HC04)( 非门 ) 的逻辑功能。 J）测试 CC4011(74HCOO)( 与非门 ) 的逻辑功能。 k) 测试 CC4001(74HC02)( 或非门) 的逻辑功能。 l) 测试 CC4030(74HC86)( 异或门)的逻辑功能。 五、实验步骤 1 、将数字逻辑电路实验板扩展板固定到主电路板上。 2 、在扩展板上插上要测试的芯片 , 注意管脚数数与扩展板上所标数对应。芯片首先要接电源和地线 ( 在主电路板上留有相应的插孔〉。 3 、按照芯片的管脚分布图接线 ( 注意高低电平的输入和高低电平的显示 ) 。 4 、芯片的管脚分配见附录。 六、实验报告要求 1. 画好各门电路的真值表表格 , 将实 , 验结果填写到表中。 2. 根据实验结果 , 写出各逻辑门的逻辑表达式 , 并判断逻辑门的好坏。