基于非完整表面缺陷模式一维光子晶体高分辨率折射率传感器.pdfVIP

第31卷，第2期 光谱学与光谱分析 V01．31，No．2，pp565—569 201 and 1 1年2月 SpectralAnalysis Spectroscopy February，201 基于非完整表面缺陷模式的一维光子晶体高分辨率折射率传感器 闽江周1～，吴一辉h，宣 明1，郝 鹏1 1．中国科学院长春光学精密机械与物理研究所应用光学国家重点实验室，吉林长春 130033 2．中国科学院研究生院，北京100049 摘要介绍了一种新璎一维光子晶体非完整表面缺陷模式折射率传感器的原理及方法，并构建了高分辨 率、高Q值传感器探测实验系统，利用二甲基砜溶液验证了这种传感器。实验结果表明，该折射率传感器的 灵敏度为3025咖·RIU～(Refractiveindex Unit)，当光谱仪的分辨率为0．01nIn时，传感器的分辨率为 3．3×10吖RIU。该传感器的Q值为260，并且在1．4～1．42范围内具有良好的线性度(线性度为0．99127)。 文章分析了传感器Q值与光子晶体周期数及被探测液体厚度之间的关系。理论和实验证明这种全反射型光 子晶体表面波传感器具有与SPR相似的无标、实时生物检测的特点且可获得更高的探测灵敏度、Q值和分 辨率。 关键词光子晶体；折射率传感器；表面态；半无限 中图分类号：TP212．3 文献标识码：A DOI：10．3964／j．issm1000-059312011)OZ一0565-05 近年来光子晶体的研究被广泛关注，通过构成光子晶体 引 言 的缺陷态可获得高Q值谐振腔模式且与SPR传感器只能用 P偏振光不同，光子晶体传感器可以使用P偏振光和s偏振 在化学和生物传感器中，折射率传感器占有重要的地 光进行探测。文献1-23利用光子晶体多孔硅的折射率传感器 位，它通过探测折射率的变化来确定化学物质的种类和含 原理是两个硅基光子晶体构成布拉格反射境，待探测的液体 量。折射率传感器的主要类型是光学传感器，这是因为光学 作为缺陷层，当液体折射率变化时，光子晶体反射尖峰发生 传感器反应快捷、高灵敏度以及操作简便并且不受电磁和环 移动从而达到探测折射率的目的，但这种传感器操作复杂， 境f扰。这峰优点使光学传感器在生物分子探测、环境分 不能实时探测。 析、医药开发等领域得到r广泛应用。 本文提出了～种在一维光子晶体表面构建由两层sich 目前已商业化的无标记光学生物传感器中，综合效果最 和一层si组成的不完整缺陷模式的方法，并在课题组相关 好的是SPR(surfaceplasmonresonance)传感器[1]。尽管SPR 的波长调制SPR传感器研究的基础l二搭建了表面液体折射 生物传感器已被广泛使用，但其折射率分辨率只有10叫 率的实验探测平台。在此基础卜研究了该半无限一维光子晶 RIU。SPR传感器通常利用银膜或者金膜激发表面等离子体体的响应特性以及获得高分辨率、高Q值传感器的原理及方 波，但银膜很容易被氧化，利用金膜构成的SPR传感器的尖 法。 峰的半带宽达70nmLl|，因ffij其Q值往往很低，需要通过大 量的数据处理，才能获得较高的折射率探测分辨率，增加了 传感器基本原理及理论分析 系统的复杂性，降低了系统的响应速度。 不仅如此，尽管目前已有部分SPR的折射率分辨率已 1．1一维光子晶体非完整表面缺陷模式原理 优于10-6RIU，对于分子量不小于1000