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第9章 自动测试技术 教学目的与要求 本章重点要求掌握自动测试技术的发展以及系统的基本结构、GBIP总线的结构性能和传递的过程、VXI总线的结构和器件分类、智能仪器的结构以及虚拟仪器的结构。 关键词 自动测试系统（Automated Test System） GBIP（instrument） VXI （VMEbus Extensions for Instrumentationr） 智能仪器（Intelligent instrument） 虚拟仪器（National Instruments） 9.1 自动测试系统的基本结构 随着近代科学技术的迅速发展，生产和项目研发的规模越来越大，生产效率要求也越来越高，产品研究和开发过程中要求测试的项目和内容也日趋复杂，而且测量的精度和速度要求也很高，通常还伴随着大量的数据处理和统计运算的工作。在这种情况下，靠人工和简单功能的仪器进行测试已不能胜任，如何解决测试技术的自动化问题就成为技术人员关心和着力研究的问题。计算机技术、实时采样技术、频率合成技术的发展和成熟，给自动测试技术和系统的研究奠定了基础，检测技术、传感器技术、数据传输和处理技术以及大规模集成电路技术的发展，尤其是单片计算机技术和计算机科学的飞速发展，为测试技术的自动化提供了必要的技术条件和手段。 通常将在计算机控制下，能自动进行各种信号测量、数据处理、传输，并