低阻抗多孔介质材料SHPB 实验技术.pdfVIP

第 13 卷　第 2 期 实　验　力　学 V o l. 13, N o. 2 1998 年 6 月 JOU RNAL O F EXPER IM EN TAL M ECHAN ICS Jun. 1998 　 低阻抗多孔介质材料的 SH PB 实验技术 刘剑飞　王正道　胡时胜 ( 中国科学技术大学, 合肥, 230026) 摘要　低阻抗多孔介质材料具有较低的密度和弹性波速, 对其实施动态压缩实 验具有一定的难度。本文在充分分析聚氨酯泡沫试件由于低阻抗所带来的各种影响 因素后, 提出了在 SH PB 装置上对低阻抗多孔介质材料进行动态测试时所应采取的 半导体应变片技术及新的 SH PB 数据计算模式, 初步解决了 SH PB 装置上对低阻抗 多孔介质测试的难点。 关键词　多孔介质, 半导体应变片测量技术, 分离式 Hopk in son 压杆 低阻抗多孔介质一般具有很好的缓冲吸能特性, 已广泛用于易损物品的缓冲包装、重要设 备的防护及结构物的内部填充等, 因此研究这类材料在各种冲击载荷下的力学行为已是有关 设计部门日益关注的问题。聚氨酯泡沫塑料也是一种低阻抗多孔介质, 然而以往对泡沫塑料的 动态测试大多数是在落锤类实验装置上实施的, 由于这类实验没有考虑试验装置及试件的惯 性效应, 因此无法准确地测定试件材料动态应力应变曲线, 人们通常是用这类实验测定试件材 - 4 ( 料的抗压特性和吸能效应等。测定试件材料的应力应变曲线通常采用准静态试验机 = 10 - 1 0 2 ) ( ) ～ 10 、中应变率试验机 = 10 ～ 10 , 更高应变率的材料性能试验大多采用分离式 s s Hopk in son 压杆(SH PB ) , 这一实验技术考虑了试验装置的惯性效应, 而试件的尺寸很小, 可不 [ 1 ] 必考虑惯性效应而视为均匀体。实验装置及测量系统如图 1 所示 。 ( ) 根据一维假定 一维应力波理论 , 可得试件的应力、应变和应变率分别为 1 A ( ) E [ ( ) ( ) ( ) t = t + t + t ]