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- 2017-08-28 发布于重庆
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摘要
近年來,隨著能源議題的重要性增加,電力電子和功率元件的發展
亦成為關鍵之一。如何獲得良好的耐壓能力與導通阻值的權衡和降低製
作成本 一直是功率元件的研究重點 ,儘管許多研究發表只需少數光罩即
可完成,但仍為特殊製程,需藉由打線 接合(Wire bonding)技術將功率元
件和主要電路部分連接 ,在成本降低 以應用彈性上仍然受限。
此外,一般金氧半場效電晶體的崩潰電壓,容易受到表面峰值電場
影響,也是會造成 金氧半場效電晶體的閘極介電層可靠度降低 。本論文
提出一個可整合於 28 奈米互補式金氧半金屬閘極製程的功率元件,稱
為浮空場板金氧半場效電晶體 (Floating Field Plate MOSFETs) 。薄閘極
介電層下,藉由浮空的金屬閘極被使用延伸在汲極接面邊緣的擁集電場,
以提高耐壓。透過 TCAD(Tsuprem4 and Medici)模擬器,分析其浮空場
板設計對於電位與表面電場分布的影響;從量測結果顯示浮空場板金氧
半電晶體可以有效的改善閘極引致崩潰(Gated breakdown) ,使其電壓接
近接面崩潰。因 此元件不需漂移區(Drift region) 光罩且不
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