天线反射对混波室场均匀性校准的影响.pdfVIP

· 100· 《测控技术}2010年第29卷第1期 天线反射对混波室场均匀性校准的影响 周 香，蒋全兴，何 鹏 (东南大学 电磁兼容实验室，江苏 南京 211189) 摘要：场均匀性是混波室的重要指标，但其在校准 中会受天线反射的影响。首先计算分析了混波室经验 最低使用频率与体积的关系，通过增加体积降低最低使用频率会增加成本；然后介绍了混波室场均匀性 校准程序，最后通过实验分析得 出，混波室搅拌器搅动会影响发射天线驻波比，由此导致归一化 因子不 同混波室场强归一化标准偏差不同，甚至会影响混波室最低使用频率。 关键词 ：天线反射 ；混波室；场均匀性 ；最低使用频率 中图分类号 ：TB973 文献标识码 ：A 文章编号：1000—8829(2010)01—0100—03 InfluencesofAntennaReflection ontheFieldUniformityCalibrationof ReverberationChamber ZHOUXiang，JIANGQuan-xing，HEPeng (ElectromagneticCompatibilityLab．，SoutheastUniversity，Nanjing211189，China) Abstract：FielduniformityiStheimportantpropertyindexofreverberationchambersfRC1．anditscalibration iSinfluencedbyantennareflection．TherelationbetweenexperientiallowestuseablerfequencyfLUF1ofRC anditsvolumeiSanalyzed．TodecreasetheLUF．thecostwillincreasebyincreasingthevolume．Then．thepro— cedureoffielduniformitycalibrationofRC isintroduced．Atlast．itisconcludedthatthestirringofRCstirrer affectsthevoltagestandingwaveration(VSWR)antennathroughexperiment，whichresultsinthatthenomral— izedstandarddeviationoffieldstrengthvarieswiththenormalizingfactor．eventhattheLUFiSinfluenced． Keywords：antennareflection；RC(reverberationchamber)；fielduniformity；LUF(1owestuseablerfequency) 混波室是 电大 (尺寸与波长可 比拟)、时变、高传 就是混波室的最低使用频率。如何提高混波室的低频 导率、高Q值、结构复杂的屏蔽小室，一般装有一个或 场均匀性是混波室的研究重点。1994年，A．C．Marvin 多个搅拌器以提供统计均匀的和各向同性的场 。2002 等人提出了用散射体的方法 。1999年，E．A．Godfrey 年，1EC61000-4—21草案是第一个专 门规范混波室的 提出波纹墙的方法 。这些方法都需改变混波室的 国际化标准。2003年，IEC61000-4．21正式出版 。 物理结构，本研究首先计算分析了最低使用频率与体 混波室方法的标准化促进 了混波室的研究、发展与应 积的关系基础；然后在介绍混波室场均匀性程序的基 用 。 础上，测试分析了搅拌器搅动对发射天线驻波的影响； IEC61000-4—21：2003中规定，混波室建造好后或 从测试角度出发，分析天线反射对混波室场均匀性校 改造后需对混波室进行场均匀性校准，频率高于400