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维普资讯 科 研 J；定黑 与 学 术 交 流 基于 电子散斑干涉技术的 压力容器无损检测 黄 鹏。莫 军，符春渝，李思忠 (中国工程物理研究院，四川绵阳 621900) 摘 要：针对含有内部狭长形缺陷的球形薄壁压力容器，采用电子散斑干涉技术测试了容器表 面的位移场，分析了其应变和应力场。测试结果表明，内压0．65MPa时离面位移等值线呈 “花生” 状，缺陷对应表面处变形产生局部凹陷，第一主应变和主应力场有明显的狭长形低值带，该低值带 能反映内部缺陷的位置和形状。给出了基于板壳理论的力学分析模型，分析表明．缺陷处壳体厚度 改变产生的弯矩是导致应力和应变量在缺陷处迅速降低的主要原因。 关键词：无损检测；压力容器；电子散斑干涉技术；缺陷；应变场；应力场 中图分类号：TG115．28 文献标识码：A 文章编号：1000—66