SDH测试方法.ppt

操作步骤 按上图接好电路 SDH分析仪在发送信号选定VC-12的通道将V5(b1,b2)字节嵌入1个或2个差错比特,送给被测设备; 被测设备的网管性能监视报告必须得到1个或2个BIP差错 同时SDH分析仪检测到的STM-N信号中相应的VC-12通道V5(b3)=1; SDH分析仪在发送信号选定的VC-12通道中将嵌入”1” 被测设备网管必须报告该VC-12通道LP-REI. 127 开销和维护信号-V5测试 V5(b4) 128 开销和维护信号-V5测试 操作步骤 按上图接好电路 被测设备通过网管送VC-12通道远端故障指示LP-REI; SDH分析仪必须显示:V5(b4)=1; SDH分析仪发送在发送信号选定的VC-12通道中将V5(b4)嵌入”1” 被测设备必须报告LP-REI. 129 开销和维护信号-V5测试 V5(b5-b7) 130 开销和维护信号-V5测试 操作步骤 按上图接好电路 使被测设备处于中某一STM-N低阶VC不装载状态; SDH分析仪必须显示V5(b5-b7)=000, 使被测设备STM-N发送中某一低阶VC处于异步映射PDH信号的工作方式; SDH分析仪必须显示V5(b5-b7)=010. 131 开销和维护信号-V5测试 V5(b8) 132 开销和维护信号-V5测试 操作步骤 按上图接好电路 被测设备通过网管送VC-12通道远端故障指示LP-REI; SDH分析仪必须显示:V5(b8)=1; SDH分析仪发送在发送信号选定的VC-12通道中将V5(b8)嵌入”1” 被测设备必须报告LP-REI. 133 开销和维护信号-V5测试 指针 AU-4指针 TU-3指针 TU-12指针 134 指针测试 AU-4指针H1,H2,H3 135 指针-AU4指针测试 操作步骤 按上图接好电路 SDH分析仪接收到STM-N信号中的AU-4某被测的H1和H2字节,H1( b1-b6)=011000,H1(b7,b8)和H2组成的10个比特之值在0与782之间; SDH分析仪对被测AU-4指针作连续改变,从770-782-0-10,每次加1,再从10-0-782-770,每次减一,被测设备不能产生误码; 改变测试配置,SDH分析仪发送的被测AU-4指针值故意置为大于782的某值, 被测设备网管必须报告AU-4指针丢失 同时,SDH分析仪接收到的信号中的相关通道应告警,高阶通道远端缺陷指示G1(b5-b7)=100, 低阶通道远端缺陷指示V5(b8)=1. 同时,误码检测器必须显示VC-4AIS. 136 指针-AU4指针测试 TU-3 H1,H2,H3 137 指针-TU3指针测试 操作步骤 按上图接好电路 SDH分析仪接收到STM-N信号中的TU-3某被测的H1和H2字节,H1( b1-b6)=011000,H1(b7,b8)和H2组成的10个比特之值在0与764之间; SDH分析仪对被测TU-3指针作连续改变,从750-764-0-10,每次加1,再从10-0-764-750,每次减一,被测设备不能产生误码; 改变测试配置,SDH分析仪发送的被测TU-3指针值故意置为大于764的某值, 被测设备网管必须报告TU-3指针丢失 同时,SDH分析仪接收到的信号中的相关通道应告警,VC3通道远端缺陷指示G1(b5-b7)=100, 同时,误码检测器必须显示VC-3AIS. 138 指针-TU3指针测试 TU-12 V1,V2,V3 139 指针-TU12测试 操作步骤 按上图接好电路 SDH分析仪接收到STM-N信号中的TU-12某被测的V1和V2字节,V1( b1-b6)=011010,V1(b7,b8)和V2组成的10个比特之值在0与139之间; SDH分析仪对被测TU-12指针作连续改变,从130-139-0-10,每次加1,再从10-0-139-130,每次减一,被测设备不能产生误码; 改变测试配置,SDH分析仪发送的被测TU-12指针值故意置为大于139的某值, 被测设备网管必须报告TU-12指针丢失 同时,SDH分析仪接收到的信号中的相关通道应告警, V12通道远端缺陷指示V5(b8)=1, 同时,误码检测器必须显示VC-12AIS. 140 指针-TU12测试 Thank You! END 通道内部环回 测试配置 95 回环功能测试 操作步骤 按上图接好电路; 按被测设备支路接口速率等级,图案发生器选择适当PRBS向被测设备送测试信号; 误码检测器(Ⅱ)应能正常接收到该信号,无误码; 通过网管系统发出A端或B端STM-1内部终端环回命令; 误码检测器(I)立即应能收到图案发生器的信号,无误码,无告警; 误码检测器(Ⅱ)必须显示AIS。 96 回环功能测试 目 录 SDH 光接口测试 SDH 抖动测试