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测量系统分析MSA 一、为什么要做测量系统分析 ISO/TS16949中7.6.1要素“测量系统分析”的要求。 为了分析出现在各种测量和试验设备系统测量结果的变差，必须进行适当的统计研究。此要求必须适用于在控制计划中提及的测量系统。所有的分析方法及接受准则必须符合顾客有关测量系统分析的参考手册。如果顾客批准，其他分析方法和接受标准可被采用。 三、测量系统（MS）的定义及测量理论基础知识 用来对被测特性定量测量或定性评价的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境和假设的集合;用来获得测量结果的整个过程。 测量系统的分类 可以将测量过程看成一个制造过程，它的输出即为测量结果。 基本认识： 通过分析测量结果的统计特性来确定测量系统的质量。 理想的测量过程的输出应是被测量的真值，测量误差为零。 在人、机、料、法、环综合作用下的测量过程的输出为被测量的真值与测量误差之和。 测量误差分为系统误差(准确度，统计分布中表现为位置特性）和随机误差（精密度，统计分布中表现为宽度特性）。 四、测量系统分析（MSA）的主要内容 测量系统五项变差： 尽管每一个测量系统可能需要有不同的统计特性，但有一些基本特性用于定义“好的”测量系统，它们是： 足够的分辨率和灵敏度。为了测量的目的，相对于过程变差或规范控制限，测量的增量应该很小；（1/10，选择设备期望的最低起点） 测量系统必须处于统计控制中，这意味着在可重复条件下，测量系统中的变差只能是由于普通原因而不是由于特殊原因造成的，称为统计稳定性且最好用图形法评价； 五、MSA的五性介绍 测量系统的分辨率（Resolution) 测量系统可以探测并如实显示的参考值的变化量称为分辨率。 （1）偏倚(Bias) 测量结果的观测平均值（在可重复条件下的一组实验）和基准值之间的差值。基准值可以通过采用更高级别的测量设备进行多次测量，取其平均值来确定。 确定偏倚——独立样本法： 偏倚相对比较大，可能的原因： 仪器需要校准； 仪器、设备或夹紧装置的磨损； 基准存在误差； 校准不当或调整基准的使用不当； 仪器质量差，设计或一致性不好； 线性误差； 应用错误的量具； (2)线性(Linearity) 测量系统在预期操作（测量）范围内偏倚的变化称为线性。线性可以认为是关于偏倚大小的变化。 某工厂领班对确定某测量系统的线性感兴趣。基于该过程变差，在测量系统工作范围内选定5个(g)零件。通过全尺寸检验设备测量每个零件，以确定它们的基准值。然后一位评价人对每个零件测量12次(m)。零件随机抽取，每个零件平均值与偏倚平均值的计算如图表中所示。 　 仪器需要校准，需要减少校准时间间隔； 仪器、设备或夹紧装置的磨损； 缺乏维护（通风、动力、液压、过滤器、腐蚀、锈蚀、清洁； 磨损或损坏的基准，基准出现误差； 校准不当或调整基准的使用不当； 仪器质量差； （3）稳定性(Stability) 稳定性（或漂移）是测量系统在某一阶段时间内，测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量总变差。稳定性是偏倚随时间的变化。 基本认识： 最好在已知测量系统统计稳定时，再分析测量系统的重复性和再现性。 当评价测量系统的统计稳定性时，必须考虑到系统使用寿命期间会遇到的预期环境、使用者、零件和方法。 控制图可提供方法来分离影响所有测量结果的普通原因产生的变差和特殊原因产生的变差。 稳定性计算实例、分析见讲义附页 测量系统控制图的样本容量及抽样频率的确定依赖于对测量系统的了解。主要考虑的还是使用过程中测量系统所有的外部条件。 控制图出现失控信号，表明测量系统的偏倚已发生变化。 控制图分析： 控制图判定时，先判R图，R图稳定后再判Xbar图,如果X、R图没有下列情况说明测量系统稳定： R图和Xbar图内各数值没有在控制限值范 围之外。 数值点连续7点在中心线同一侧出现。 数值点连续7个点出现上升或下降。 测量系统的改进： 若有1点或多点超出控制限范围，必须分析出原因并剔除该点数据后重新计算控制限值后进行判定。 出现失控信号，是测量系统需要进行校准的标志。 从控制图中分析出可能影响测量系统的特殊原因，采取相应的措施，排除特殊原因，重新采点，计算控制限，形成稳定的测量过程。 进一步的改进可视为变窄了的控制限，表明已经缩减了系统变差的普通原因。 （4）重复性和再现性 重复性(Repeatability)是由同一个评价人，采用同一种仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值变差。它是仪器本身固有的变差或性能。 再现性(Reproducibil