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根轨迹概念 180度等相角根轨迹方程 180度等相角根轨迹绘制法则 180度等相角根轨迹绘制法则(续) 参量根轨迹的绘制 增加开环零极点对根轨迹的影响 利用根轨迹分析系统性能 利用根轨迹分析系统性能(续) 应掌握的内容 * * 第四章 控制系统的根轨迹法 根据系统的零极点分布可间接地研究控制系统的性能。在复平面上由开环零极点确定闭环零极点的图解方法称为根轨迹法。 根轨迹的类型： 常规根轨迹：包括180度等相角根轨迹和零度等相角根轨迹。轨迹增益kg从0变化到无穷大时的根轨迹称为180度根轨迹； kg从0变化到负无穷大时的根轨迹称为0度根轨迹。 参量根轨迹：除了根轨迹增益kg以外其他参数变化时的根轨迹。当然包括0度和180度根轨迹。 根轨迹定义：开环系统某一参数从零变化到无穷大时，闭环系统特征方程的根在s平面上变化的轨迹。 当开环传递函数表示成零、极点形式时,有： 式中， 为开环系统的根轨迹增益，zi为开环零点，pj为开环极点。 可写为以下两个方程，即幅值条件和相角条件： 相角条件： 幅值条件： 根轨迹方程： (kg0) 连续性和对称性：连续且对称于实轴。 根轨迹支数，起点和终点：支数为阶数n；起点为开环极点，终点为开环零点(有限零点m个和无限零点n-m个)。 根轨迹的渐近线(有n-m条)： 倾角和与实轴的交点分别为： 实轴上的根轨迹：其右方开环系统的零点数和极点数的总和为奇数。 出射角和入射角 ： 会合、分离点和分离角： 180度等相角根轨迹绘制法则(续) 与虚轴的交点 : （1）在劳斯表中，令s1行系数全等于零，用s2行的系数构成辅助方程，就可求出这一对虚根，即根轨迹与虚轴的交点。同时，还可求出此时的根轨迹增益。 （2）将 代入闭环特征方程，并令特征方程的实部和虚部分别等于零，可求出根轨迹与虚轴的交点和根轨迹增益。 若满足 ,闭环系统极点之和等于开环系统极点之和，且为常数。表明，随着kg增大，一些根轨迹左移，而另一些根轨迹必向右移。 闭环系统极点之和 绘制根轨迹时，如果可变参数不是kg，而是其它参数时，称为参量根轨迹。 参量根轨迹绘制方法： 对1+Gk(s)=0，即闭环特征方程进行等价变换，将其转化为1+pGk1(s)=0的形式。其中p是可变参数。 Gk1(s)是等效的开环传递函数，p是可变参数。根据p的取值范围的不同(大于0或小于0)，可画出以p为参数的180度或0度根轨迹曲线。 增加开环零点对根轨迹的影响 （1）一般可使根轨迹向左半s平面弯曲或移动，增强系统的相对稳定性，增大系统的阻尼。 （2）改变渐近线的倾角，减少渐近线的条数。 增加开环极点对根轨迹的影响 （1）一般可使根轨迹向右半s平面弯曲或移动，降低系统的相对稳定性，减小系统的阻尼。 （2）改变渐近线的倾角，增加渐近线的条数。 利用根轨迹可确定使系统稳定的参数范围 根轨迹处于s左半平面部分的系统是稳定的。 瞬态性能分析 闭环系统的零、极点和瞬态响应的关系在前面已讨论过，利用根轨迹可清楚地看到开环根轨迹增益或其他参数变化时，闭环系统极点位置及其瞬态性能的改变情况。 利用根轨迹确定系统的有关参数 对于二阶系统（及具有闭环主导共轭复数极点的高阶系统），通常可根据性能指标的要求在复平面上划出满足这一要求的闭环极点（或高阶系统主导极点）应在的区域。如下页图所示，具有实部 和阻尼角 划成的左区域满足的性能指标为： 和 若闭环极点落在左图中红线包围的区域中，有： 利用这一关系可确定满足一定性能指标要求的开环系统的一些参数。 稳态性能分析：稳态误差与开环传递函数有关，根据根轨迹图能够确定系统的开环传递函数。 180度，0度根轨迹的绘制 参数根轨迹的绘制 增加开环零、极点对根轨迹和系统性能的影响 分析系统的稳定性 分析系统的瞬态和稳态性能 对于二阶系统（及具有闭环主导共轭复数极点的高阶系统），根据性能指标的要求在复平面上划出满足这一要求的闭环极点（或高阶系统主导极点）应在的区域。 [例4-1]系统的开环传递函数为： 当A和kg取不同值时，绘出的根轨迹是什么类型的根轨迹。 [解]分以下几种情况说明： Kg为常数，A为变数时，为参量根轨迹； A为常数，kg为变数时，为常规根轨迹（包括180度和0度根轨迹）； 当kg0时，若A0，则为180度根轨迹；若A0，为0度根轨迹。 当kg0时，若A0，则为0度根轨迹；若A0，为180度根轨迹。 画根轨迹 分离（会合）点分别为-2.93和-17.1，分离（会合）角为90度。根轨迹为圆，如右图所示。 [