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数字电路实验 实验一 门电路逻辑功能测试 一、实验目的 1．熟悉集成集成逻辑门电路逻辑的功能及应用。 2．掌握集成电路的应用及测试方法。 二、实验设备 数字电路实验箱 集成电路74LS00＼74LS86＼74S64 数字万用表 示波器 三、实验内容及步骤 连线原理图 多余输入端的处理 与非门多余输入端的处理 或非门多余输入端的处理 表二 74S64引脚图 完成半加器测试填表 2．全加器——能同时进行本位数和相邻低位的进位信号的加法运算。 由真值表直接写出逻辑表达式，再经代数法化简和转换得： 根据逻辑表达式画出全加器的逻辑电路图： 实验小结 常用的中规模组合逻辑器件包括编码器、译码器、数据选择器、数值比较器、加法器等。 上述组合逻辑器件除了具有其基本功能外，还可用来设计组合逻辑电路。应用中规模组合逻辑器件进行组合逻辑电路设计的一般原则是：使用MSI芯片的个数和品种型号最少，芯片之间的连线最少 用MSI芯片设计组合逻辑电路最简单和最常用的方法是，用数据选择器设计多输入、单输出的逻辑函数；用二进制译码器设计多输入、多输出的逻辑函数。 表3-1 3、完成全加器测试填表 74LS86引脚图 74S64引脚图  实验三 555定时器的应用 一、实验目的 掌握用555定时器构成的几种基本脉冲电路的方法，并验证其功能。 学习脉冲形成与整形电路的调试方法。 进一步熟悉用示波器测量方波信号周期及脉宽的方法。 组合逻辑电路（半加器全加器及逻辑运算） 三、预习要求 1.预习组合逻辑电路的分析方法。 2.预习用与非门和异或门构成的半加器、全加器的工作原理。 3.预习二进制数的运算。 四、实验内容 1.组合逻辑电路功能测试 图2.1 (1).用2片74LS00组成图2.1所示逻辑电路。为便于接线和检查，在图中要注明芯片编号及各引脚对应的编号。 (2).图中A、B、C接电平开关，Y1,Y2接发光管电平显示。 (3).按表2.1要求，改变A、B、C的状态填表并写出Y1,Y2逻辑表达式。 (4).将运算结果与实验比较。 表2.1 2.测试用异或门(74LS86)和与非门组成的半加器的逻辑功能。 根据半加器的逻辑表达式可知，半加器Y是A、B的异或，而进位Z是A、B相与，故半加器可用一个集成异或门和二个与非门组成如图2.2。 图2.2 (1).在学习机上用异或门和与门接成以上电路。A、B接电平开关S，Y、Z接电平显示。 (2).按表2.2要求改变A、B状态，填表。 表2.2 表2.3 (5).按原理图选择与非门并接线进行测试，将测试结果记入表2.4，并与上表进行比较，看逻辑功能是否一致。 4.测试用异或、与或和非门组成的全加器的逻辑功能。 全加器可以用来那个个半加器和两个与门一个或门组成，在实验中，常用一块双异或门、一个与或门和一个与非门实现。 (1).画出用异或门、与或门和非门实现全加器的逻辑电路图，写出逻辑表达式。 电路图如图2.4所示 (2).找出异或门、与或门和与门器件按自己画出的图接线。接线时注意与或非门中不用的与门输入端接地。 (3).当输入端Ai、Bi及Ci-1为下列情况时，是用万用表测量Si和Ci的电位并将其转为逻辑状态填入下表。 表2.4 五、实验报告 1.整理实验数据、图表并对实验结果进行分析讨论。 2.总结组合逻辑电路的分析方法。 曲靖师范学院物理实验示范中心 赵德荣 图2.1 0 1 1 0 0 0 1 1 0 0 1 1 1 1 1 1 0 1 1 1 0 0 1 0 0 0 1 1 1 0 0 1 0 0 0 1 1 1 1 0 Y2 Y1 C B A 输出 输入 图2.2 1 0 0 0 Z 0 1 1 0 Y 输出端 1 1 0 0 B 1 0 1 0 A 输入端 3.测试全加器的逻辑功能。 (1).写出图2.3电路的逻辑表达式。 (2).根据逻辑表达式列真值表。 (3).根据真值表画逻辑函数SiCi的卡诺图。 (4).填写表2.3各点状态 图2.3 0 1 0 1 1 1 0 1 1 1 1 0 1 1 0 1 1 1 0 1 1 0 1 1 0 1 1 1 1 0 0 1 0 1 1 1 0 1 0 0 1 0 1 1 1 0 0 0 1 1 0 1 1 0 1 0 1 0 0 1 0 1 1 0 1 0 1 0 1 0 0 0 1 1 1 0 0 0 0 0 Ci Si X3 X2 X1 Z Y Ci-1 Bi Ai * * 曲靖师范学院 物理系:陶昌