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可靠性的数学基础 1.2 失效概率F(t) 失效概率也叫累积失效概率或不可靠度(性)或分布函数，是指产品在规定的条件下，在时间t以前失效的概率，是寿命这一随机变量的分布函数，记作F(t)。 相应的各有关特征量为 对数正态分布常用于设备维修时间的分布及材料的疲劳寿命方面，在半导体器件的寿命分布中也有应用。 注：从数理统计可知，若某一随机变量受许多随机因素之和的影响，则它服从正态分布；若其受许多随机因素乘积的影响，则它服从对数正态分布。 图９ 图１０ 对数正态分布的密度函数曲线和对数正态分布的失效率曲线 表2 常用连续型概率分布 34 ３ 产品的寿命表征 3.1 平均寿命 对于不可修复的产品，是指产品发生失效前的工作或贮存的平均时间；通常记作tMTTF。 对于可修复的产品，寿命指的是两次相邻失效(故障)间的工作时间，而不是每个产品的报废的时间。对于这类产品，平均寿命指的是平均无故障工作时间。通常记作tMTBF 。 两个定义在数学上的表达形式是一致的，故我们通称为平均寿命。 如果在一批产品中取n个样品进行寿命试验，得到各样品的寿命为t1、t2、…tn，则它们的平均值　就是该组子样的平均寿命。即 当n很大时，采用积分的形式可以将总体的平均寿命表示为 假如产品的失效分布服从指数分布，即 则服从指数分布的平均寿命q为 可见对指数分布而言，其平均寿命与失效率之间互为倒数关系。 3.２ 寿命方差和寿命标准离差 寿命方差和寿命标准离差是反映产品寿命波动或离散程度的特征量。 子样寿命方差D(T)的定义是子样的每个观测值ti与子样平均寿命的离差平方和被n-1除，即 当随机变量的可能值密集在平均值的附近时，方差较小；相反则方差较大。故由寿命方差的大小可以推断产品寿命分布的离散程度。 寿命标准离差就是寿命方差的平方根。 总体的寿命方差s2是t与总体平均寿命m之差的平方的平均值。 在实际工作中，总体的方差可以用子样的方差来估计。 3.3 可靠寿命、中位寿命及特征寿命 可靠寿命：使可靠度等于给定值R的时间t称为可靠寿命。记为tR。如图所示。 R(tR) = R 图11 对于指数分布的情况，根据R(tR) = exp(-ltR)=R的关系，可直接求出tR ，即 由此可以求出指数分布的产品，在任意可靠性水平下的可靠寿命。如下表所示。 4.605 3.000 2.302 1.609 1.204 0.916 0.693 0.511 0.357 0.223 0.105 0.010 0.0010 0.0001 tR 0.01 0.05 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 0.99 0.999 0.9999 R 表３　指数分布的产品在不同可靠水平下的可靠寿命　　　单位q R= 0.5时的tR称为产品的中位寿命； R= 1/e时的tR称为产品的特征寿命。 图12 可靠性各主要特征量之间的关系 ４ 可靠性框图和数学模型 4.1 基本概念及其意义 可靠性框图（又叫逻辑图或可靠性结构模型） 数学模型 图13 LC振荡回路及其可靠性框图 (a) 电路； (b) 可靠性框图 S1 S2 S1 S2 S1 S2 (a) (b) (c) 图14 (a) 电路中串联两个开关；(b) 开关起接通电路功能 的可靠性框图；(c) 开关起切断电路功能的可靠性框图 系统 串联 并联 混联 网络 其他 工作贮备 非工作贮备 纯并联 表决 理想开关 非理想开关 串－并联 并－串联 图 15 系统可靠性框图的分类 4.2 串联系统 系统中任何一个单元(部件)出故障都会导致整个系统出故障，或者说只有当系统中所有单元都正常工作时系统才能正常工作的系统，称为可靠性串联系统。串联系统的可靠性框图如图所示。 图16 串联系统的可靠性框图 系统寿命xs等于各单元寿命xi中的最小者，即 。设单元的可靠度为，且相互独立，系统可靠度为? 既可靠度Rs(t)是组成该系统的各单元可靠度Ri(t)的连乘积，此即串联系统可靠性的数学模型。 利用F(t)+R(t)=1可得系统的失效分布为 系统的失效分布密度为 系统的失效率ls(t)为 当n个单元均工作在偶然失效期时，即li(t)= li是一常数，于是有 上式说明：系统中各单元均遵从指数分布时，串联系统也遵从指数失效时间分布。因指数分布的tMTTF (均值,q) 等于失效率的倒数，可得系统与各单元之间的关系为 当各单元的失效率相等，即l1= l2=…= ln = l时 结论： （1）串联系统的可靠度要低于组成该系统的每个单元的可靠度，且随串